深圳市泰克光电科技有限公司2024-11-13

深圳市泰克光电科技有限公司的12寸IC探针台半导体晶圆点测机适用于半导体芯片的测试和研发领域。它可以用于对12英寸晶圆以及4mm x 4mm以上的单个DIE进行测试，能够满足不同尺寸芯片的测试需求。该设备具有高精度的位置测量和运动控制能力，能够对芯片的电性能进行准确的测量和分析，帮助研发人员提高芯片的质量和性能。

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