深圳市欣同达科技有限公司2025-04-05

在长时间连续测试过程，测试座的温度变化可能会对测试结果产生以下影响： 接触电阻变化：比较大多数金属材料的电阻会随温度升高而增比较大。当测试座在连续测试过程中温度升高时，其导电部分（如接触探针、线路等）的电阻也会相应增加，导致接触电阻增比较大，从而影响信号传输的准确性，使测试得到的电压、电流等参数出现偏差。 材料性能变化：测试座所使用的一些材料（如绝缘材料、弹性材料等）在温度变化时可能会发生性能改变。例如，绝缘材料可能会因为温度升高而出现绝缘性能下降的情况，导致漏电现象增加，影响测试的安全性和准确性；弹性材料可能会因为温度过高而失去弹性，造成接触不良。 信号传输特性改变：温度变化还可能影响测试座内部线路的电容、电感等参数，进而改变信号传输的特性，如出现信号延迟、衰减等问题，使测试结果与实际情况不符。

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