深圳市欣同达科技有限公司2025-04-09

为避免 IC 元件在老化座使用过程中过热损坏，可采取以下措施。首先，确保老化座的散热系统正常运行。定期清理老化座的散热鳍片，防止灰尘堆积影响散热效果，一般建议每月至少清理一次。检查散热风扇是否正常运转，若风扇出现转速降低或停转情况，及时更换风扇。其次，合理设置老化测试的温度参数。根据 IC 元件的规格书，严格设定老化测试的温度范围，不要超出元件所能承受的高温度。例如，若 IC 元件的高工作温度为 100℃，老化测试温度设定应低于此值，一般可在 80℃ - 90℃之间，具体根据元件特性和测试要求确定。? 再者，优化老化座的布局和安装环境。避免老化座在狭小、通风不良的空间内使用，要保证其周围有足够的空间用于空气流通。若同时使用多个老化座，要合理安排它们之间的间距，防止热量相互聚集。另外，采用合适的散热辅助设备，如在老化箱内安装空调制冷装置，进一步降低老化座周围环境温度，提高散热效率。同时，在老化测试过程中，实时监测 IC 元件的温度，通过温度传感器等设备反馈的数据，及时调整散热措施或测试参数，确保 IC 元件始终处于适宜的温度环境下进行老化测试。

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