在精密电子制造业的舞台上,每一块PCBA(印刷电路板组装)的质量都是产品性能与寿命的基石。随着技术的飞速发展,PCBA的复杂度与集成度不断提升,如何有效控制生产过程中产生的污染物,确保电路板的长期可靠性,成为行业共同面临的挑战。广州维柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统,正是这一挑战的解决方案。【深度洞察,精确监测】GWHR256系统遵循IPC-TM-650标准,专为PCBA的可靠性评估而设计,它能够实时监控SIR(表面绝缘电阻)和CAF(导电阳极丝)的变化,精确捕捉哪怕是微小的离子迁移现象。这意味着在焊剂残留、有机酸盐类、松香等污染物可能导致的电性能退化之前,该系统就能预警,为制造商提供宝贵的数据支持,及时调整清洗工艺,避免潜在的失效风险。【多通道优势,***提升效率】区别于传统单一通道的监测设备,GWHR256系统具备16-256个通道的高灵活性,能够同时监测多组样品,极大提高了测试效率。无论是大规模生产还是研发阶段的小批量验证,都能灵活应对,满足不同规模企业的多样化需求。其强大的数据处理能力,支持测试时间长达9999小时,覆盖了从短期到长期的***可靠性测试周期,为PCBA的长期性能保驾护航。.评估PCB存储后的可焊性性能,验证存储是否对PCB板上需要焊接位置的可焊性有不良影响。海南离子迁移电阻测试设备
电阻测试过程中的自动化和智能化水平仍有待提高。目前,许多电阻测试仍然依赖于人工操作,不仅效率低下,而且容易引入人为误差。为了解决这个问题,科研人员正在开发智能电阻测试系统,通过引入人工智能和大数据技术,实现测试过程的自动化和智能化。这些系统能够自动识别和分类测试数据,提高测试效率和准确性,同时降低人为误差的风险。在电阻测试数据的处理和分析方面,也面临着一些挑战。由于测试数据的海量性和复杂性,传统的数据处理方法已经难以满足需求。为了解决这个问题,研究人员正在探索新的数据处理和分析技术,如机器学习和深度学习等。这些技术能够从大量数据中提取有用的信息,提高数据分析的准确性和效率,为电阻测试的决策提供有力支持。湖北表面绝缘电阻测试价格半导体元器件随着技术和生产工艺的进步,其可靠性得到了长足的发展。
维柯的SIR/CAF检测系统不仅具备高精度电流测量能力,还拥有大范围的电阻测量范围,从1x1014Ω,覆盖了从微小电阻到高阻值的全部范围。这一大范围的测量范围使得维柯的设备能够应用于多种不同的测试场景,满足客户的多样化需求。在电子产品制造过程中,不同的材料和部件具有不同的电阻特性。例如,印制电路板上的铜导线、阻焊油墨层以及绝缘漆等材料,其电阻值可能相差几个数量级。维柯的设备能够准确测量这些不同材料的电阻值,为制造商提供多方面的数据支持。此外,在科研领域,随着新材料、新技术的不断涌现,对电阻测量的要求也越来越高。维柯的设备凭借其大范围的测量范围,能够应对这些新的挑战,为科研人员提供更加准确的测试数据。
当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时,在高温高湿状态下施加电压,电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下,离子化金属向相反的电极间移动(阴极向阳极转移),相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象(类似锡须,容易造成短路),这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时,表面绝缘电阻(SIR)测试可以通过电阻值显现出来。表面绝缘电阻(SIR)测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压,经过长时间的试验,观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。表面绝缘电阻(SIR)测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题,也有助于看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质,通过表面绝缘电阻(SIR)测试数据可以直接反映PCB的清洁度。维柯CAF.TCT产品系列具有好的适用性和高精度的测试能力。
电化学迁移被认为是电阻在电场与环境作用下发生的一种重要的失效形式,会导致产品在服役期间发生漏电、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的电路板使用大约2年后其内部电阻存在短路失效的情况。1.1机械开封机械开封后1#电阻样品表面形貌如图1所示,可明显发现电阻表面有一层金属光泽异物粘附,异物呈树枝状结晶,由一端电极往另一端电极方向生长,并连接了电阻两端电极;一端电表表面发生溶解,且溶解的端电极表面存在黑色腐蚀产物。有数据统计90%以上的电阻在大气环境中使用[1],因此不可避免地受到工作环境中的温度、湿度、灰尘颗粒及大气污染物的影响,很容易发生电化学迁移。在电路板上进行电阻测试时,需小心操作,避免短路相邻元件。湖南制造电阻测试操作
在进行电阻测试时,应使用低阻抗测试线,减少线路损耗。海南离子迁移电阻测试设备
一般而言,SIR测试通常用于对助焊剂和/或清洁工艺进行分类、鉴定或比较。对于后者,SIR测试通常用于评估一个人的“免清洗”焊接操作。执行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期获得绝缘电阻(IR)测量值。表面绝缘电阻测试(SIR测试)根据IPC的定义,表面绝缘电阻(SIR)是在特定环境和电气条件下确定的一对触点、导体或接地设备之间的绝缘材料的电阻。在印刷电路板(PCB)和印刷电路组件(PCA)领域,SIR测试——通常也称为温湿度偏差(THB)测试——用于评估产品或工艺的抗“通过电流泄漏或电气短路(即树枝状生长)导致故障”。SIR测试通常在升高的温度和湿度条件下在制定SIR测试策略时,选择用于测试的产品或过程将有助于确定**合适的SIR测试方法以及**适用的测试工具。海南离子迁移电阻测试设备