1800年，英国天文学家F.W.赫歇尔发现了红外线。上世纪70年代，红外测温仪和电荷耦合器件被成功应用。上世纪末，以焦平面阵列（FPA）为**的红外器件被成功应用。红外技术的**是红外探测器，红外探测器按其特点可分为四代：***代（1970s－80s）：主要是以单元、多元器件进行光机串/并扫描成像；第二代（1990s－2000s）：是以4x288为**的扫描型焦平面；第三代：凝视型焦平面；第四代：目前正在发展的以大面阵、高分辨率、多波段、智能灵巧型为主要特点的系统芯片，具有高性能数字信号处理功能，甚至具备单片多波段探测与识别能力。增加一下红外线测温仪的实际应用效果。晶柱生长红外测温仪技术参数

测温门也叫温度测量及金属探测安检门。其测温技术原理是：由于物体的红外辐射特性与它的表面温度有着十分密切的关系，因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度。这种技术测量的比较大优点是测试速度快，1秒钟以内可测试完毕，而且因为它只接收人体对外发射的红外辐射，没有任何其他物理和化学因素作用于人体，所以对人体无任何害处。此外，测温安检门保留了红外测温仪探测的功能，可以在体温高于基准线或探测到金属时报警。上海红外测温仪器红外测温仪测量的是一个区域内的平均温度，测量值受发射率、镜头的污染以及背景辐射的影响。

在资料中也可以找到。也就是每个点的值是按公式计算出来的。说明：这张图是发射率变化1%时导致的红外测温设备的***误差。下面做一些简单计算：温度在1500°C时，发射率变化1%或10%：再比如在温度1500°C时，发射率变化1%，用8-14μm红外测温仪或红外热像仪，测量温度的***误差是12°C(参见图片中**上面的那条曲线)。如果发射率变化10%呢？那么测温的***误差=10%发射率变化要乘以10x12°C=120°C。用1μm红外测温仪或红外热像仪，测量温度的***误差是2°C(参见图片中红色曲线)。如果发射率变化10%呢？那么测温的***误差=10%发射率变化要乘以10x2°C=20°C。

红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。在自然界中，一切温度高于零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布 —— 与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础人体红外测温仪具备收集人体体温便捷、简易、便捷等特性。

从产品类型及技术方面来看，红外测温仪占据主要市场，2022年占全球市场份额为89.14%。预计未来六年中国市场复合增长率为5.63%，并在2029年规模达到56.1百万美元。从产品市场应用情况来看，蚀刻和晶圆制造占比较大，2022年占全球市场份额为56.44%。生产层面，目前北美是全球比较大的半导体高温计生产地区，占有大约41.45%的市场份额，之后是欧洲，占有大约36.10%的市场份额。目前全球市场，基本由北美和欧洲地区厂商主导，全球半导体高温计头部厂商主要包括AdvancedEnergy、FlukeProcessInstruments和KELLERHCW等，**大厂商占有全球大约43.66%的市场份额。预计未来几年行业竞争将更加激烈，尤其在中国市场。对于初次接触红外测温仪的用户来说，距离系数比与发射率这两个参数估计都看不太懂。锻造加工用红外测温仪现场测试

长波长红外测温仪通常用来测量低于 200℃的目标或特殊介质的测量。晶柱生长红外测温仪技术参数

红外测温仪是一种高精度、高效率的测温设备，它采用红外线技术，能够快速、准确地测量物体表面的温度。与传统的接触式测温方法相比，红外测温仪具有非接触、无损、快速等优点，广泛应用于工业、医疗等领域。我们的红外测温仪采用先进的光学技术和信号处理技术，具有高精度、高灵敏度、高稳定性等特点。它可以在极短的时间内完成测温，同时还能够自动记录测量数据，方便用户进行数据分析和处理。我们的红外测温仪还具有多种功能，如最大值/最小值测量、温度报警、数据存储等，可以满足不同用户的需求。同时，我们的产品还具有良好的耐用性和防护性能，可以在恶劣的环境下长时间使用。我们的红外测温仪是一款高性能的测温设备，可以为用户提供准确、可靠的测温服务。如果您需要测量物体表面温度，不妨选择上海诺丞仪器仪表有限公司的红外测温仪，它一定会让您满意。晶柱生长红外测温仪技术参数