做一款芯片较基本的环节是设计->流片->封装->测试，芯片成本构成一般为人力成本20%，流片40%，封装35%，测试5% 测试其实是芯片各个环节中较“便宜”的一步，在这个每家公司都喊着“Cost Down”的激烈市场中，人力成本逐年攀升，晶圆厂和封装厂都在乙方市场中“叱咤风云”，唯独只有测试显得不那么难啃，Cost Down的算盘落到了测试的头上。但仔细算算，测试省50%，总成本也只省2.5%，流片或封装省15%，测试就相当于不收费了。但测试是产品质量然后一关，若没有良好的测试，产品PPM过高，退回或者赔偿都远远不是5%的成本能表示的。不同的性能指标需要对应的测试方案才能完成芯片质量的筛选。湖北多功能芯片测试机市价

本发明在另一实施例中公开一种芯片测试机的测试方法。该测试方法包括以下步骤：将多个待测试芯片放置于多个tray盘中，每一个tray盘中放置多个待测试芯片，将多个tray盘放置于自动上料装置，并在自动下料装置及不良品放置台上分别放置一个空tray盘；移载装置从自动上料装置的tray盘中取出待测试芯片移载至测试装置进行测试；芯片测试完成后，移载装置将测试合格的芯片移载至自动下料装置的空tray盘中，将不良品移载至不良品放置台的空tray盘中；当自动上料装置的一个tray盘中的待测试芯片全部完成测试，且自动下料装置的空tray盘中放满测试合格的芯片后，移载装置将自动上料装置的空tray盘移载至自动下料装置。湖北多功能芯片测试机市价Function TEST: 测试芯片的逻辑功能。

s4：当自动上料装置40的一个tray盘中的待测试芯片全部完成测试，且自动下料装置50的空tray盘中放满测试合格的芯片后，移载装置20将自动上料装置40的空tray盘移载至自动下料装置50。当自动上料装置40的位于较上方的tray盘中的50个芯片全部完成测试后，且该50个芯片全部都是合格品，则此时自动下料装置50的tray盘中放满50个测试合格的芯片。则通过移载装置20将自动上料装置40的孔的tray盘移载至自动下料装置50上，且将该tray盘放置于自动下料装置50的放置有50个芯片的tray盘的上方。

当芯片进行高温测试时，为了提供加热的效率，本实施例的加热装置还包括预加热缓存机构90，预加热缓存机构90位于自动上料装置40与测试装置30之间。预加热缓存机构90包括预加热垫板91、隔离板92、加热器93、导热板94及预加热工作台95。预加热垫板91固定于支撑板12上，隔离板92固定于预加热垫板91的上表面，加热器93固定于隔离板92上，且加热器93位于隔离板92与导热板94之间，预加热工作台95固定于导热板94的上表面，预加热工作台95上设有多个预加热工位96。如果设计有错误则无法测试，需要重新拆装电路甚至烧坏芯片或设备。

本发明的目的在于提供一种芯片测试机及芯片测试方法，本发明的芯片测试机的结构紧凑、体积较小，占地面积只一平米左右，可以满足小批量的芯片测试要求。其技术方案如下：本发明在一实施例中公开了一种芯片测试机。该芯片测试机包括机架，以及设置于机架上的移载装置、测试装置、自动上料装置、自动下料装置及不良品放置台，所述自动上料装置包括头一料仓及自动上料机构，所述自动上料机构在所述头一料仓内上下移动；所述自动下料机构包括第二料仓及自动下料机构，所述自动下料机构在所述第二料仓内上下移动，所述移载装置位于所述自动上料装置、自动下料装置、测试装置及不良品放置台的上方，所述移载装置将自动上料装置的待测试芯片移动至测试装置，并将测试完成的芯片移动至自动下料装置或不良品放置台，所述移载装置还将自动上料装置的空tray盘移动至自动下料装置。芯片测试原理是指在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理。江苏晶圆芯片测试机市价

芯片测试是通过特制的测试仪器,将预定信号注入被测试的芯片引脚上,然后检测芯片输出端口的响应情况。湖北多功能芯片测试机市价

CP测试内容和测试方法：1、SCAN，SCAN用于检测芯片逻辑功能是否正确。DFT设计时，先使用DesignCompiler插入ScanChain，再利用ATPG（Automatic Test Pattern Generation）自动生成SCAN测试向量。SCAN测试时，先进入Scan Shift模式，ATE将pattern加载到寄存器上，再通过Scan Capture模式，将结果捕捉。再进入下次Shift模式时，将结果输出到ATE进行比较。2、Boundary SCAN，Boundary SCAN用于检测芯片管脚功能是否正确。与SCAN类似，Boundary SCAN通过在IO管脚间插入边界寄存器（Boundary Register），使用JTAG接口来控制，监测管脚的输入输入出状态。湖北多功能芯片测试机市价