接触电阻即探针尖与焊点之间接触时的层间电阻。通常不能给出具体的指标，因为实际的接触电阻比较难测量。一般，信号路径电阻被用来替代接触电阻，而且它在众多情况下更加相关。在检测虚焊和断路的时候，探针卡用户经常需要为路径电阻指定一个标称值。信号路径电阻是从焊点到测试仪的总电阻，即接触电阻、探针电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。但是，接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。在实际使用中，探针的接触电阻在比较大程度上取决于焊点的材料、清洗的次数、以及探针的状况，而且它同标称值相差较多。高电流探针：探针直径在2.54mm-4.75mm之间。大的测试电流可达39amps。无锡专业探针价位

探针台是由针头、内管和弹簧三部分组成的。因为探针在应用中十分注重它的导电性、持久性和硬度等特性的强弱，所以在安装时也是有一定的讲究的。在安装前，要对这些部分做特殊的电镀处理，这样的探针才可以说是合乎规范可以应用的探针。一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长。汽车线束测试测试探针专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0--3.5mm之间，电流在3----50A除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等。电子探针可以对试样中微小区域（微米级）的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描（得到层成分分布信息）、面扫描分析（得到成分面分布图像）。还能全自动进行批量（预置9999测试点）定量分析。比较少用。高电流探针：探针直径在2.54mm-4.75mm之间。大的测试电流可达39amps。连云港探针多少钱半导体探针：直径一般在0.50mm-1.27mm之间。

触点压力的定义为探针顶端（测量单位为密耳或微米）施加到接触区域的压力（测量单位为克）。触点压力过高会损伤焊点。触点压力过低可能无法通过氧化层，因此产生不可靠的测试结果。顶端压力主要由探针台的驱动器件控制，额外的Z运动（垂直行程）会令其直线上升。此外，探针材质、探针直径、光束长度、和尖锥长度都在决定顶端压力时起重要的作用。从本质上来说，随着探针开始接触并逐渐深入焊点氧化物和污染物的表层，接触电阻减小而电流流动迅速开始。随着探针接触到焊点金属的亚表层，这些效应将增加。尽管随着探针压力的增强，接触电阻逐渐降低，终它会达到两金属的标称接触电阻值。

钨熔点高(3683℃±20℃)，电子发射能力强，弹性模量高，蒸气压低，故比较早就被用作热电子发射材料。纯金属钨极的发射效率比较低，且在高温下再结晶形成等轴状晶粒组织而使钨丝下垂、断裂。为克服上述缺点，适应现代工业新技术、新工艺的发展，各国材料工作者正致力于研究和开发各种新型电极材料。以钨为基掺杂一些电子逸出功低的稀土氧化物，既能提高再结晶温度，又能启动电子发射。稀土金属氧化物具有优良的热电子发射能力，稀土钨电极材料一直是替代传统放射性钍钨电极材料的开发方向。随着探针开始接触并逐渐深入焊点氧化物和污染物的表层，接触电阻减小而电流流动迅速开始。

探针对测试结果的影响：通常，参数测试系统将电流或电压输入被测器件（DUT），然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为：从测试仪通过电缆束至测试头，再通过测试头至探针卡，然后通过探针至芯片上的焊点，到达被测器件，并然后沿原路径返回测试仪器。如果获得的结果不尽如人意，问题可能是由测量仪器或软件所致，也可能是其它原因造成。通常情况下，测量仪器引进一些噪声或测量误差。而更可能导致误差的原因是系统的其它部件，其中之一可能是，它会受探针参数的影响，如探针的材料、针尖的直径与形状、焊接的材质、触点压力、以及探针台的平整度。此外，探针尖磨损和污染也会对测试结果造成极大的负面影响。我们的探针在导电率、弹性模量、耐用性、光输出性、可靠性和机械稳定性可满足客户定制要求。南通正规探针厂家现货

探针具有导电薄膜的电阻率、面电阻、型号及击穿电压等多种功能。无锡专业探针价位

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