在激光应用领域，高功率光束检测一直是个难题。传统面阵传感器十分灵敏，在每平方厘米约 10μW 的功率水平下就会饱和，常规激光器功率远超此强度，不衰减光束不仅无法测量光斑信息，还可能损坏设备。维度光电为此推出 BeamHere 光斑分析仪系列及适配的高功率光束取样系统。其扫描狭缝式光斑分析仪采用创新的狭缝物理衰减机制，可直接测量近 10W 的高功率激光，无需额外衰减片。在此基础上，还推出单次取样与双次取样两款衰减配件，可组装叠加形成多次取样系统。与合适衰减片搭配，可测功率超 1000W。单次取样配件型号 DL - LBA - 1，45° 倾斜设计，取样率 4% - 5%，有 C 口安装方式和锁紧环结构，能测量任意角度入射激光；双次取样配件型号 DL - LBA - 2，内部紧凑安装两片取样透镜，取样率 0.16% - 0.25%，可应对 400W 功率光束，多面体结构有多个支撑安装孔位。组合安装配件可进一步衰减更高功率激光，大衰减程度达 10??。而且其紧凑结构的取样光程能满足聚焦光斑测量需求，单次取样 68mm，双次取样 53mm，为各类激光应用场景的检测提供了方案。半导体行业激光光束质量检测方案。近场光斑光斑分析仪

Dimension-Labs 推出的相机式光斑分析仪系列包含两个型号，覆盖 400-1700nm 宽光谱范围，实现可见光与近红外波段光斑的实时显示与分析。其优势如下： 宽光谱覆盖与动态分析 单台设备即可满足 400-1700nm 全波段测量需求，支持 2D 光斑实时成像与 3D 功率分布动态分析。高帧率连续测量模式下，可实时捕捉光斑变化并生成任意视角的 3D 视图，为光学系统调试、动态测试及时间监控提供直观数据支持。 复杂光斑适应性 基于面阵传感器的成像原理，可测量非高斯分布光束（如平顶、贝塞尔光束）及含高阶横模的复杂光斑，突破传统扫描式设备的局限性。 功率调节系统 标配 6 片不同衰减率的滤光片，通过独特的转轮结构实现功率范围扩展，可测功率提升 100 倍。一键切换滤光片设计简化操作流程，兼顾宽量程与高精度需求。 科研级功能拓展 采用模块化可拆卸设计，光斑分析相机与滤光片转轮可分离使用。拆卸后的相机兼容通用驱动软件，支持科研成像、光谱分析等扩展应用，实现工业检测与实验室的一机多用。国产化光斑分析仪光束质量M2怎么测量？

维度光电-BeamHere光斑分析仪通过测量光束质量参数，为激光技术在多领域的高效应用提供支撑。在工业加工领域，其亚微米级光斑校准能力有效优化切割、焊接及打标工艺，确保光束轮廓的一致性，从而保障加工质量。在医疗领域，该设备用于眼科准分子激光手术设备的校准，实时监测光束能量分布，确保手术的安全性。在科研场景中，它支持皮秒级脉冲激光测量，为物理与材料提供高精度数据，推动新型激光器件的。在光通信领域，该分析仪能够实现光纤端面光斑形态分析，保障光信号传输的稳定性。在农业与生命领域，通过分析激光诱变育种的光束参数，优化植物生长调控的效率。全系产品覆盖200-2600nm宽光谱范围，支持千万级功率测量，结合M2因子测试模块与AI分析软件，为各行业提供从光斑形态到传播特性的全链路检测方案，助力客户提升产品性能和生产效率。

维度光电-光斑分析仪的使用 科研场景 将 BeamHere 安装在飞秒激光实验平台，使用触发模式同步采集单脉冲光斑。 通过软件 "时间序列分析" 功能，观察脉冲序列中光斑形态变化。 调用 "光束质量评估" 模块，计算啁啾脉冲的 M2 因子演变曲线。 在 "用户自定义" 界面添加波长、脉宽等实验参数，生成带批注的报告。 工业场景 在激光切割设备光路中插入 BeamHere，选择 "在线监测" 模式。 实时显示光斑椭圆率、能量分布均匀性等参数。 当检测到光斑漂移超过阈值时，软件自动触发警报并记录异常数据。 每日生成生产质量报表，统计良品率与设备稳定性趋势。光斑分析仪保修期多长？维度光电整机 3 年质保，部件 5 年延保。

维度光电光束质量测量解决方案基于两大技术平台： 扫描狭缝式系统：采用正交狭缝转动轮结构，通过 ±90° 旋转实现 XY 轴同步扫描，结合刀口 / 狭缝双模式切换，突破亚微米级光斑检测极限。光学系统集成高灵敏度光电探测器，配合高斯拟合算法，实现 0.1μm 分辨率与 ±0.8% 测量重复性。 相机式成像系统：搭载背照式 CMOS 传感器（量子效率 95%@500-1000nm），结合非球面透镜组消除畸变，支持皮秒级触发同步与全局快门技术，捕捉单脉冲光斑形态。算法通过二阶矩法计算 M2 因子，测量精度达 ±0.3%。 创新突破： 狭缝物理衰减机制实现 10W 级激光直接测量 面阵传感器动态范围扩展技术支持 1μW-1W 宽功率检测 AI 缺陷诊断模型自动识别光斑异常（率 97.2%）光斑分析仪与M2测试模块组合，实现对光束传播方向的发散角、M2因子、聚焦直径等测量。近场光斑光斑分析仪

如何利用光斑分析仪和 M2 因子测量模块评估激光质量？近场光斑光斑分析仪

相机式与狭缝式光斑分析仪对比指南 光斑分析仪的选择需基于应用场景的光斑尺寸、功率、脉冲特性及形态复杂度： 1. 光斑尺寸 相机式：受限于 sensor 尺寸（≤10mm），小光斑为 55μm（10 倍 5.5μm 像元）。 狭缝式：刀口模式可测小 2.5μm 光斑，适合亚微米级检测。 2. 功率范围 相机式： 6 片衰减片（BeamHere 标配），可测 1W，需控制功率 < 10μW/cm2。 狭缝式：狭缝物理衰减机制支持近 10W 直接测量，无需外置衰减片。 3. 脉冲激光 相机式：触发模式同步捕获完整单脉冲光斑，兼容性强。 狭缝式：需匹配扫描频率与激光重频，易丢失脉冲信息。 4. 光斑形态 相机式：面阵传感器保留非高斯光束（如贝塞尔光束）及高阶横模细节。 狭缝式：狭缝累加导致复杂光斑失真，适合高斯或规则光斑。 选择建议 狭缝式：亚微米光斑、高功率或高斯光斑检测。 相机式：大光斑、脉冲激光或复杂非高斯光束分析。 维度光电 BeamHere 系列提供两种技术方案，适配实验室与工业场景的全场景需求。近场光斑光斑分析仪