温度数据采集仪基本结构与**组件

温度数据采集仪通常由以下模块构成： 温度湿度，英菲服务每一步！宁波温度变送器热工计量检测公司

• 温度传感器：热电偶（K/J/T型）、热电阻（PT100、PT1000）、热敏电阻（NTC/PTC）、红外传感器等。
• 信号调理电路：包括放大、滤波、冷端补偿（针对热电偶）、线性化处理等。
• 模数转换器（ADC）：将模拟电信号转换为数字信号，决定分辨率和采样率。
• 微处理器（MCU）：控制采集时序、数据处理、存储及通讯。
• 存储模块：内置存储器（SD卡、Flash）或外接存储设备。
• 通讯接口：USB、RS-485、Wi-Fi、蓝牙、4G等（用于数据传输）。
• 电源管理：电池或外部供电，支持低功耗模式。

工作用辐射温度计校准步骤

1.连接与预热

1.将标准辐射温度计与待校温度计对准黑体辐射源中心，保持相同测量距离，确保测量视场完全覆盖黑体腔开口。

2.开启黑体辐射源及温度计电源，预热至少30分钟（具体时间参照设备说明书）。

2.下限校准

1.设置黑体源温度为量程下限，待温度稳定后（波动≤±1℃），记录标准温度计示值T1和待校温度计示值T2。

2.调整待校温度计零点/偏移参数，使T2=T1±允许误差。

3.量程校准

1.将黑体源升温至量程上限，稳定后记录标准值与待校值。

2.通过增益调整功能修正量程偏差，确保上限点误差在允许范围内。

4.多点校准

1.在量程范围内均匀选取5个校准点。

2.每个温度点稳定后同步记录标准值和被校值，计算示值误差Δ=被校值-标。准值

3.绘制温度-误差曲线，验证线性度（典型要求≤±1%FS）。

5.回程误差测试

1.从下限至上限按50℃间隔逐步升温测试，记录各点输出值。

2.从上限以相同间隔逐步降温测试，计算同一温度点升/降过程的较大差值。

3.回程误差应≤基本误差限的1/2。

6.稳定性验证

1.在中间量程点持续工作2小时，每15分钟记录1次测量值。

2.计算比较大漂移量，应满足年稳定性指标。

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双金属温度计校准步骤

1. 安装固定：将双金属温度计和标准温度计同时垂直插入恒温槽中，使它们的感温元件处于同一深度和位置，并用夹具固定好，确保温度计与恒温槽内的介质充分接触，且不与槽壁、槽底接触。
2. 零点校准：将恒温槽温度设定为 0℃，待温度稳定后，观察双金属温度计的指针是否指在 0 刻度位置。若有偏差，可通过调整双金属温度计的调零机构，使指针指向 0 刻度。
3. 多点校准：根据双金属温度计的测量范围，均匀选取至少 3 个校准点，例如测量范围为 0℃ - 100℃，可选取 25℃、50℃、75℃三个点。将恒温槽分别升温或降温至选定的校准温度点，每个温度点稳定保持 10 - 15 分钟，待温度稳定后，记录标准温度计的示值和双金属温度计的示值。
4. 偏差计算：计算双金属温度计在各校准点的偏差，偏差 = 双金属温度计示值 - 标准温度计示值。将偏差与双金属温度计的允许误差进行比较，判断是否符合精度要求。一般工业用双金属温度计的允许误差为量程的 ±1.0% - ±1.5%。
5. 回程误差测试：在完成升温校准后，按照与升温校准相反的顺序，将恒温槽温度依次降至各校准点，再次记录双金属温度计和标准温度计的示值，计算各校准点的回程误差。回程误差 = 升温时示值 - 降温时示值，回程误差应不大于允许误差

温湿度计的湿度发生器法

• 校准前准备
  • 选择湿度发生器：根据校准需求，选择合适的湿度发生器，如双压法湿度发生器、双温法湿度发生器或分流法湿度发生器等。
  • 连接设备：将湿度发生器与被校准的温湿度计正确连接，确保气路或电路连接正常。
  • 准备测量仪器：配备高精度的温度测量仪器和压力测量仪器，用于测量湿度发生器产生的温湿度和压力参数。
• 校准步骤
  • 设定参数：根据被校温湿度计的测量范围和校准要求，在湿度发生器上设定不同的温湿度值。
  • 产生标准湿度：启动湿度发生器，使其产生稳定的标准湿度环境。
  • 校准测量：将被校温湿度计放入湿度发生器产生的标准湿度环境中，待示数稳定后，记录被校温湿度计的温湿度示数，并与湿度发生器设定的标准值进行比较，计算误差

工作用辐射温度计**结构与工作流程

(1) 光学系统

• 红外透镜/反射镜：聚焦目标物体发出的红外辐射至探测器。透镜材料需透红外光（如锗、硒化锌），避免普通玻璃对红外线的吸收。
• 视场角与距离系数（D:S）：决定测量区域大小，例如D:S=12:1表示在12cm距离下测量1cm直径区域。

(2) 探测器

• 热电堆（Thermopile）：利用温差电效应将红外辐射转换为电压信号，无需制冷，成本低（常用类型）。
• 光电导型探测器（如InGaAs、HgCdTe）：对特定波长敏感，需制冷以提高灵敏度，用于高精度场合。
• 热释电探测器：响应速度快，适合动态测温。

(3) 信号处理与温度计算

• 信号放大与滤波：探测器输出的微弱电信号经放大和滤波（抑制环境干扰）。
• 发射率（ε）校正：实际物体非理想黑体（ε<1），需根据材料设置发射率（如抛光金属ε≈0.1，氧化金属ε≈0.8，人体皮肤ε≈0.98）。
• 温度反演算法：通过斯特藩-玻尔兹曼公式或分波长亮度法计算温度值。

(4) 显示与输出

• 温度显示：LCD屏幕直接显示温度值（℃/℉可切换）。
• 数据接口：RS-232、USB或无线传输至计算机或PLC系统。

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工作用辐射温度计校准前准备

1.标准器及配套设备

1.选用标准辐射源（如黑体辐射源），其扩展不确定度应优于被校辐射温度计的1/3，温度范围需覆盖200~1200℃（根据实际需求调整），黑体发射率不低于0.99。

2.配备高稳定性黑体炉，温度波动度控制在±0.5℃以内，均匀性优于±1℃（依据校准点温度调整要求）。

3.准备高精度光谱辐射计或经校准的标准红外温度计，用于比对测量，其分辨率不低于0.1℃，最大允许误差不超过±0.1%。

4.配套距离调节装置，确保辐射温度计与被测黑体源的距离符合仪器说明书要求，避免视场遮挡。

2.环境条件

1.实验室温度应稳定在（23±5）℃，相对湿度≤70%，避免强气流或热辐射干扰（如空调直吹、阳光直射或高温设备辐射）。

2.校准区域需屏蔽环境杂散光及强电磁场，背景辐射温度与校准目标温差应小于5℃。

3.工作台应稳固防振，避免因振动导致光学对准偏移。

3.被校仪器检查

1.检查辐射温度计光学镜头是否清洁、无划痕或污染，外壳无变形，铭牌信

息完整。

2.验证电源及信号接口连接可靠，电池电量充足（如为便携式），开机后自

检功能正常。

3.确认参数设置正确，包括发射率、波长范围、距离系数等，与被测黑体源

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