SIR（表面绝缘电阻）测试在电子制造业中扮演着至关重要的角色，是确保产品质量与可靠性的基石。它专注于评估印刷电路板（PCB）和其他电子组件表面的绝缘性能，防止因助焊剂残留、污染物积累或材料老化导致的短路问题。通过模拟长期使用条件下的电气性能变化，SIR测试帮助制造商识别并解决潜在的电气故障，保障电子产品在各种环境下的稳定运行，从而提高客户满意度和市场竞争力。广州维柯的SIR（表面绝缘电阻）测试测试电压高达 2000V/5000V 可选,:1x106-1x109Ω≤±2%精度，20ms/所有通道每秒的速度。智能电阻具有更加便捷的操作和数据处理能力。江西SIR表面绝缘电阻测试性价比

另一方面，工艺的优化和控制可能会遗漏一些关键的失效来源。其次，由于组件处于生产过程中，无法实时收集结果。根据测试方法的不同，测试时间**少为72小时，**多为28天，这使得测试对于过程控制来说太长了。从而促使制造商寻求能快速有效地表征电化学迁移倾向的测试方法，以控制组装工艺。几十年来，行业标准一直认为SIR测试是比较好的方法。然而，在实践中，这种方法有一些局限性。首先，它是在标准梳状测试样板上进行的，而不是实际的组装产品。根据不同的PCB表面处理、回流工艺条件、处理工序等，需要进行**的测试设置。而且测试方法的选择，可能需要组装元器件，也可能不需要。由于和助焊剂分类有关，这些因素的标准化是区分可比较的助焊剂类别的关键。江苏CAF电阻测试价格CAF测试——电路板离子迁移测试的有效方法！

电化学迁移被认为是电阻在电场与环境作用下发生的一种重要的失效形式，会导致产品在服役期间发生漏电、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的电路板使用大约2年后其内部电阻存在短路失效的情况。1.1机械开封机械开封后1#电阻样品表面形貌如图1所示，可明显发现电阻表面有一层金属光泽异物粘附，异物呈树枝状结晶，由一端电极往另一端电极方向生长，并连接了电阻两端电极；一端电表表面发生溶解，且溶解的端电极表面存在黑色腐蚀产物。有数据统计90%以上的电阻在大气环境中使用[1]，因此不可避免地受到工作环境中的温度、湿度、灰尘颗粒及大气污染物的影响，很容易发生电化学迁移。

电子元器件筛选的目的：剔除早期失效产品。提高产品批次使用的可靠性。元器件筛选的特点：筛选试验为非破坏性试验。不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。对批次产品进行*筛选。筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。电子元器件筛选常规测试项目：检查筛选：显微镜检查、红外线非破坏检查、 X射线非破坏性检查。密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示 踪检漏、湿度试验、颗粒碰撞噪声检测。环境应?筛选：高低温贮存、高温反偏、振动、冲击、离?加速度、温度冲击、综合应?、动态老炼。 电子元器件筛选覆盖范围：半导体集成电路：时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片（稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等）、致模转换器（A/D、D/A、SRD）、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等;很多用户在使用电阻测试设备过程中会遇到各种问题。

铜镜实验IPC-TM-650方法_2.3.32用来测试未加热的助焊剂如何与铜反应，也叫做助焊剂诱发腐蚀测试。本质上讲，就是滴一滴定量的助焊剂到涂敷了一层铜膜的玻璃片上，然后在特定环境中放置一段时间。这个环境接近室温环境，相对湿度是50%。24小时后清理掉助焊剂，并在白色背景下观察铜膜被腐蚀掉多少。腐蚀穿透铜膜的程度决定了助焊剂的活性等级，通常用L、M和H表示。铜板腐蚀实验IPC-TM-650方法2.6.15是用来测试极端条件下，助焊剂残留物对铜的腐蚀性。助焊剂和焊料在铜板上加热直到形成焊接。然后把铜板放置在一个温度为40°C的潮湿环境，这样可以加速助焊剂残留物和铜可能发生的反应。铜板需要在测试前和测试后仔细检查其表面颜色的变化来确定是否有腐蚀的迹象。观察结果通常可以用L、M和H来表示腐蚀性的等级。防止发生离子迁移故障的一个重要措施当然是要保持使用环境的干燥。广西离子迁移电阻测试

通过表面绝缘电阻（SIR）测试数据可以直接反映PCB的清洁度。江西SIR表面绝缘电阻测试性价比

绝缘不良是电气设备失效和安全事故的常见原因。广州维柯信息技术有限公司深知这一点，因此研发出的SIR表面绝缘电阻测试系统，专注于捕捉那些可能被忽视的微小缺陷。绝缘材料在长时间使用或特定环境下可能会老化，导致表面电阻下降，进而影响整个系统的安全性。通过定期进行SIR测试，可以早期发现这些问题，及时采取措施，避免重大事故的发生。广州维柯的SIR测试系统，以其高度的自动化和智能化，能够在各种条件下快速、准确地完成测试任务，**提高了检测效率和准确性。对于制造商而言，这不仅意味着产品可靠性增强，也是对品牌信誉的有力背书。江西SIR表面绝缘电阻测试性价比