来料检验：底部填充胶每批来料时，仓库管理员通知质量部门来料检查员，并确保应标注有效期限；如少于30天，质量部门填写《检查结果兼处理报告书》并立即投诉相关供应商，做出处理。 存储：未开封的底部填充胶长时间不使用时，应置于冷藏室存储，冷藏室温度应在厂家推荐的温度值之间。 使用：底部填充胶的使用品牌：除非生产和工艺的特殊需求，生产线上使用的底部填充胶的品牌和型号必须经过认证部门的认证。 底部填充胶的使用期限：应遵循“先使用距失效日期近的胶”的原则，不允许使用过期的底部填充胶。使用区域温度应控制在25℃±3℃，相对湿度是40%-80％。 底部填充胶的回温：使用前应先从冷藏室中取出，针头朝下放置在阴凉处（不要放在冰箱顶部）回温。回温操作时需严格遵循正确的取胶方法，不允许手心直接握针管中心位置，也不允许采用加热方法来加快解冻，防止产生解冻气泡。胶水回温后出现气泡是不能使用的。底部填充剂被广泛应用于以下装置：ASICs的FC CSPs和FC BGAS、芯片组、图形芯片。河源MEMS粘接胶作用

底部填充胶受热时能快速固化、粘度较低，并且较高的流动性使得其能更好的进行底部填充，它能形成一致和无缺陷的底部填充层，能有效降低由于芯片与基板之间的总体温度膨胀特性不匹配或外力造成的冲击，具体的优势，请看以下生活应用案例。 户外大型LED显示屏，由大面积的LED灯珠排列组成，单个LED灯珠之间存在缝隙，依然不受外界的风吹雨淋，均可以正常工作，原因就是在LED灯面使用了底部填充胶，把所有的缝隙填充保护，所有才有我们现在时刻欣赏到的LED大屏幕。 电动车，移动电源、手机等产品，均有使用到锂电池，并且使用寿命是在不断的提升，更换电池的频率也较大下降，给大家的生活带来了质的提升，正是因为电源中使用到了底部填充胶，保障了设备整体的稳定性、耐用性以及防外力冲击等方面，起到了举足轻重的作用。湖北低卤环氧胶批发底部填充胶使用的过程中都建议戴防护用品的。

底部填充胶的温度循环（冷热冲击）： 关于此项测试，英文一般称之为Temperature Cycling(Thermal Cycling)，简称为TC测试。而在实际的测试中有两种情况，一种称之为温度（冷热）循环，而另一种称之为冷热（高低温）冲击。这两种其实对测试样品要求的严格程度是相差比较大的，如果设置的高温和低温完全一样，循环的次数也一样，那么能通过冷热冲击的样品一定能通过冷热循环，反之却就未必了。两者较大的区别就是升降温速率不同，简单的区分：速率为小于1-5摄氏度/分钟的称之为循环；而速率为大于20-30度/分钟的称之为冲击。关于这个可是花了几万块换来的经验和教训。TC测试除了这个升降温速率比较关键外，还有两个参数也需要关注，一个就是温度循环的区间（高温减去低温的差值），另一个就是在高低温的停留时间。当然这三个条件里面第二个温循区间其实较关键的。

随着电子产业的迅猛发展，与之密切相关的电子封装技术也越来越先进。智能化、 重量轻、体积小、速度快、功能强、可靠性好等成为电子产品的主要发展趋势。在这种发展趋 势下，CSP/BGA芯片的底部填充胶由于具有工艺操作好、易维修、抗冲击、抗跌落等诸多优点 而得到了越来越普遍的应用。 但是，现有技术中的底部填充胶一般使用环氧树脂作为主要成分，而环氧树脂则 具有粘度大、流动性差、耐候性差、耐湿耐热性较差等缺点，在户外使用容易失效。此外，现 有技术中的底部填充胶一般只能使用一种固化方式：热固化、光固化或者湿气固化，固化方 式较为单一。 有鉴于此，确有必要提供一种底部填充胶，该底部填充胶具有流动性好、耐候性好 和耐湿耐热性好等诸多优点，而且可以采用光固化和热固化等多种固化方式对其进行固 化，提高了本产品的工艺适用型，使得该产品既可用于芯片的底部填充，也可用于电子元 器件的表面涂覆和封装。底部填充胶固化后胶体收缩率低，柔韧性佳，物理性能稳定。

如何选择适合自己产品的底部填充胶，需重点关注以下几个方面： 1.与锡膏兼容性： 底部填充胶起到密封保护加固作用的前提是胶水已经固化，而焊点周围有锡膏中的助焊剂残留，如果底部填充胶与残留的助焊剂不兼容，导致底部填充胶无法有效固化，那么底部填充胶也就起不到相应的作用了，因此，底部填充胶与锡膏是否兼容，是底部填充胶选择与评估时需要重点关注的项目。 2.绝缘电阻： 底部填充胶除起加固作用外，还有防止湿气、离子迁移的作用，因此绝缘电阻也是底部填充胶需考虑的一个性能。 3.长期可靠性： 底部填充胶主要的作用就是解决BGA/CSP芯片与PCB之间的热应力、机械应力集中的问题，因此对底部填充胶而言，很重要的可靠性试验是温度循环实验和跌落可靠性实验。底部填充胶可以和大多数无铅、无卤互焊料兼容。海南倒装芯片IC底部填充胶

底部填充胶主要是以主要成份为环氧树脂的胶水对BGA 封装模式的芯片进行底部填充。河源MEMS粘接胶作用

底部填充胶空洞产生的原因： 流动型空洞，都是在underfill底部填充胶流经芯片和封装下方时产生，两种或更多种类的流动波阵面交会时包裹的气泡会形成流动型空洞。 流动型空洞产生的原因 ①与底部填充胶施胶图案有关。在一块BGA板或芯片的多个侧面进行施胶可以提高底填胶流动的速度，但是这也增大了产生空洞的几率。 ②温度会影响到底部填充胶的波阵面。不同部件的温度差也会影响到胶材料流动时的交叉结合特性和流动速度，因此在测试时应注意考虑温度差的影响。 ③胶体材料流向板上其他元件时，会造成下底部填充胶材料缺失，这也会造成流动型空洞。 流动型空洞的检测方法 采用多种施胶图案，或者采用石英芯片或透明基材板进行试验是了解空洞如何产生，并如何消除空洞的较直接的方法。通过在多个施胶通道中采用不同颜色的下填充材料是使流动过程直观化的理想方法。 流动型空洞的消除方法 通常，往往采用多个施胶通道以降低每个通道的填充量，但如果未能仔细设定和控制好各个施胶通道间的时间同步，则会增大引入空洞的几率。采用喷射技术来替代针滴施胶，控制好填充量的大小就可以减少施胶通道的数量，同时有助于对下底部填充胶流动进行控制和定位。河源MEMS粘接胶作用

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