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来源: 发布时间:2022-03-08

底部填充胶(underfill)中空洞的去除方法: 在许多底部填充胶(underfill)的应用中,包括从柔性基板上的较小芯片到较大的BGA封装,底部填充胶(underfill)中出现空洞和气隙是很普遍的问题。这种在底部填充胶(underfill)部位出现空洞的后果与其封装设计和使用模式相关,典型的空洞会导致可靠性的下降,本文将探讨减少空洞问题的多种策略。 如果已经确定了空洞产生的位置,你可能就已经有了检测空洞的方法,不同的方法对问题的解决都是有用的。其中较常用的三种检测空洞的方法分别是:利用玻璃芯片或基板,超声成像和制作芯片剖面或将芯片剥离的破坏性试验。 采用玻璃芯片或基板会十分有效,这种方法能对测试结果提供即时反馈,并且能有助于理解何种流动类型能使下底部填充胶(underfill)的流动速率达到较优化,而采用不同颜色的底部填充胶(underfill)材料也可帮助实现流动直观化。这种方法的缺点在于玻璃器件上底部填充胶(underfill)的流动和空洞的形成行与实际的器件相比可能有些细微的偏差。底部填充胶是一种低黏度、低温固化的毛细管流动底部下填料。湖北晶片封装周边黑胶批发

底部填充胶气泡和空洞测试:这个其实是用来评估填充效果的,前面在写填充效果时有提到相关影响因素的。就目前市场面常见粘度的底填胶,胶体内藏气泡的可能性比较小,据我们之前的经验,像粘度为3500cps左右的胶水,从大支分装到小支后,也只需要通过自然静置的方式也是可以将气泡排出的(当然用脱泡机处理一下当然是有备无患的),粘度更低当然就更容易自然排泡了。而在客户端测试时产生的一些气泡更多是填充的方式和施胶设备及基材的清洁度导致的。曾经有个客户居然用四边点胶的方式,这样必然会将空气包在芯片底部,填充效果肯定是不行,加之固化时里面包裹的空气膨胀,严重的时候甚至会直接在固化时的胶体上冲出气孔来。聊城芯片封装环氧树脂胶厂家smt元器件底部填充胶用哪一种好?

一种低温快速固化底部填充胶及其制备方法:低温快速固化底部填充胶,其特点是由下述重量配比的原料组成:树脂40-65份,色料0.5份,固化剂20-25份,促进剂1-6份,偶联剂0.1-3份,环氧活性稀释剂15-25份;先把树脂和色膏混合均匀,时间20-40min,温度20-30℃,然后加入固化剂,促进剂,分三次加入,三辊机混合均匀,温度20-30℃,在冷却干燥条件下混合,冷水控制在15℃,混合三遍,混合均匀后加入反应釜中满真空15min,当树脂和固化剂混合均匀后加入偶联剂,环氧稀释剂混合,满真空30min,即得产品;其固化温度低,固化速度快,储存稳定性好,制备工艺简易环保,成本低,适用范围广。

另一个备受关注的创新是预成型底部填充技术,该项技术有望在后道封装中完全消除底部填充工艺,而在CSP进行板级组装之前涂覆底部填充材料,或者在晶圆级工艺中涂覆底部填充材料。预成型底部填充在概念上很好,但要实施到当前的产品中,在工艺流程上还有一些挑战需要面对。 在晶圆级底部填充材料的涂覆中,可以在凸点工艺之前或之后涂覆预成型底部填充材料,但两种方法都需要非常精确的控制。如果在凸点工艺之前涂覆,必须考虑工艺兼容问题。与之相反,如果在凸点工艺之后涂覆,则要求预成型底部填充材料不会覆盖或者损坏已完成的凸点。此外还需考虑到晶圆分割过程中底部填充材料的完整性以及一段时间之后产品的稳定性,这些在正式使用底部填充材料到产品之前都需要加以衡量。尽管某些材料供应商对预成型底部填充材料的研发非常超前,但将这一产品投入大规模应用还有更多的工作要完成。未完全固化的胶水是很难真正全部发挥应有作用的,尤其是后期测试要求很严格的时候。

底部填充胶除起加固作用外,还有防止湿气、离子迁移的作用,因此绝缘电阻也是底部填充胶需考虑的一个性能。将刻有不同刻度的载玻片叠在PCB板的上方,中间使用50um的垫纸,使载玻片与PCB间留有间隙,在载玻片一端点一定量胶水,测试胶水流动不同长度所需的时间。由于胶水流动性将随温度变化而变化,因此,此实验可在加热平台上进行,通过设置不同温度,测试不同温度下胶水流动性。将CSP(BGA)包的底部和顶部位置先预热1分钟,加热到200-300°C时,焊料开始融化,现在可以移除边缘已经软化的底部填充胶,取出BGA。如果不能顺利拿出,可以用镊子轻轻的撬动BGA四周,使其松动,然后取出。底部填充胶理想的状态是四边的胶都均匀爬到芯片边缘的一半处(芯片上不得有胶)。四川加固填充胶哪家好

PCB板芯片底部填充点胶加工完成后固化前后颜色不一样,方便检验。湖北晶片封装周边黑胶批发

底部填充胶进行外观检查比较容易也很直观,但对于外观良好的器件,底部填充是否有空洞、裂纹和分层等缺陷,检测起来就比较复杂困难;图17B所示为CSP器件填充良好的外观。不过,对于新型的填充胶水验证、兼容性实验或不良品分析,底部填充效果检测必不可少。对此,有非破坏性检测和破坏性检查两种方法,非破坏性底部填充异常检测,可以通过自动声波微成像分析技术。超声波对于实心材质几乎是透明的,只有遇到类似于裂缝或空洞异常时,声波检测传感器通过声学成像系统工具,才能反映出相应的异常状况,并测量出与芯片底部与填充有关的机械缺陷。这种工具首先确定好区域单位,然后测量出每个单位区域内的空洞、分层或裂纹,在声学性质所占的百分比。资料显示,空洞与焊点接触可能导致焊点失效,如果空洞很小又不靠近焊点可认为合格,比如图17C所示的空洞A是可接受的,而空洞B&C则不可接受。湖北晶片封装周边黑胶批发

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