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BIX-8801，LD/LED光源测量系统

【概述】LD和LED是较常见的半导体光源，在工业和科研领域都有着广泛的应用，其光谱特征和功率数值是重要的性能指标。BIX-8801系统提供了光源驱动、器件安装、光采样和传导、光谱和光功率测量等所有涉及的组件。系统包含了以电流驱动控制、温度驱动控制和器件安装组件为关键的解决方案，电流驱动控制器和温度驱动控制都可以提供多种规格，为LD和LED器件的研究提供相匹配的设备支撑。

【特点】~选配件丰富，可按需配置。~模块化设计，集成灵活方便。~平台化软件，支持所有设备。~支持多维数据同步分析。

【应用】~半导体发光器件研究。~光电材料特性研究。~激光系统驱动控制。~控温设备驱动。 反射率测量系统在摄影器材镜头镀膜，改善镜头反射特性，减少眩光。

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红外辐射测量系统，利用物体红外辐射特性，实现非接触测温，工业热成像检测常用。BIX-8811 反射率测量系统联系电话

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