红外测温仪或者红外热像仪的芯片主要由ADC芯片和控制芯片设计组成，可实现按键控制、LCD显示、电量检测等功能。红外测温仪的工作过程：红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇集其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件以及位置决定。被测物体辐射的红外首先进入测温仪的光学系统，再由光学系统汇聚射入的红外线，使能量更加集中;聚集后的红外线输入到光电探测器中，探测器的关键部件是红外线传感器，黑体炉的任务是把光信号转化为电信号;从光电探测器输出的电信号经过放大器和信号处理电路按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。黑体在工业上主要应用于测温领域，常见的产品是黑体炉。中温黑体炉维修

BR1450中高温黑体辐射源/黑体炉温度范围宽广，由100～1450℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ32mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试。功能特点：●温度范围：100～1450℃●采用自动升温控温方式、安全可靠、温度稳定性好、使用操作方便●使用双排数字显示测量值及设定值●紧凑而坚固的设计、集校准与测试的完美结合智能黑体炉口碑好黑体炉的研究不仅对基础科学研究具有重要意义。

黑体炉的升温和降温时间也是黑体的重要特性，这一点虽然不能改变其测试性能，但能够极大地影响实验或生产效率。1℃的变化如果需要等待5分钟，这个时长会造成实验的拖延或不及时，或生产效率的降低，尤其是在需要不断改变黑体温度的情况下。DIAS的CS1500系列黑体，改变10℃以内的温度需要的温度稳定时间在60秒以内，无论是升温或降温情况下。DIAS的黑体可以在任意时间设置成任意想要的温度，不受步骤流程的约束，在降温过程中（低于0℃）。

    研究发现，发射率越高，黑体辐射对环境的敏感度越低，受环境温度影响越小。黑体炉的优势之一就是其高发射率，所有的扩展面源黑体的发射率都是，腔式黑体的发射率＞。扩展面源黑体的通过其符合LNE（与NIST同等的法国标准）特定的一种特定涂料来实现高发射率。HGH通过对黑体进行辐射校准来实现黑体在1到14um的整个波长范围内其等效发射率达到1。通过一个简单的测试来了解辐射校准的重要性：100℃的条件下，分别在不做辐射校准和做辐射校准的情况下测量黑体（发射率）的温度（通过红外温度计）。不做辐射校准的情况下其表面温度为98℃，而做过辐射校准后其表面温度为100℃。考虑到这种情况，有些人可能认为反射率不如等效反射率那么重要。然而，辐射校准是在实验环境中计算得出的，实验环境温度大概在22-23℃左右，并且是在光谱中的特定波段，其校正结果只在该实验温度和波段下有效。因此这种情况下需要严格控制工作环境的温度。 在黑体炉上进行了标定试验研究，分析了曝光时间、光圈、焦距以及标定距离等参数对CCD灰度测量的影响。

    黑体炉的定义：能全部吸收外部的辐射能量，同时能全部辐射出自身全部能量的物体。概述：黑体的主要技术指标：黑体的发射率，黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。因此为了确保黑体的产品质量，通常黑体都是按温度分段设计。通常我们所说的黑体为人工黑体。人工黑体的发射率接近于1，但不等于1。黑体在工业上主要应用于测温领域，十分主要的产品是黑体炉。对辐射温度计的校准、检定，通常采用比较法，就是通过高稳定度的辐射源（通常为黑体辐射源）和其他配套设备，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果。标准黑体作为标准辐射源，主要用于校准辐射温度计、红外温度计和辐射温度传感探测器。我公司目前具有先进的黑体技术，产品种类全、温度范围宽的黑体系列产品。 现代黑体炉大多配备先进的温度传感器和微处理器控制系统，能够实现对温度的高精度、高稳定性的控制。上海高温黑体炉800 2500度

在使用黑体炉进行实验前，需要对炉体进行充分的预热，以确保炉内温度分布均匀。中温黑体炉维修

BR400黑体炉，由环温+10℃～400℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ125mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试。功能特点：●温度范围：环温+10℃～400℃●采用自动升温控温方式、安全可靠、温度稳定性好、使用操作方便●使用双排数字显示测量值及设定值●紧凑而坚固的设计、集校准与测试的完美结合中温黑体炉维修