智能仪器组成的智能测试系统,在这类测试系统中,往往有多个重复的部件或功能单元。例如,在一个IEEE-488仪器系统中可能包含微机、逻辑分析仪、数字示波器、智能数字多用表、频谱分析仪和网络分析仪等多台带GPIB接口的单独式智能仪器。它们都有CRT、键盘和存储器等部件。因此,在利用台式、便携式甚至机架叠层式智能仪器组成测试系统时,势必造成资源浪费、成本过高。PC仪器系统,将传统式单独仪器的测量电路部分与接口部分集中在一起制成仪器卡,而仪器所需的键盘、GRT和存储器等均借助PC机的资源,就构成了PC仪器,又称模块式仪器。随着众多总线系统的电性能不能满足官方、航天等部门的更高要求,故改善PC仪器系统的性能并便其标准化势在必行。离线功能测试系统可脱机进行功能验证。集成测试系统设备
治具,常规的治具设计,大多采用双载板平衡杆和针板平衡杆。在测试过程中压板下压时,如果压板、载板、针板固定不佳,容易产生晃动,从而使UUT产生翘边变形,进行而导致测试针和测试点接触不良或者位置偏移,使得测试针弯曲变形引起误测甚至导致UUT裂损。上述情况的发生,尤其是在UUT的厚度发生较大变化时更容易产生。治具定位原理,根据电路板的不同, 可采用以下几种定位方式根据工件的不同情况。1、以外缘轮廓定位,对于面积尺寸较小而且外廓一致性较好的电路板,可采用外轮廓定位方式。长边用定位板,限制2个自由度;短边用定位针,限制1个自由度。在另一短边,还可以增加1只定位针,形成所谓的约束性过定位。这种方式中,两根定位柱所限位的尺寸应比UUT尺寸略大,在0.3mm~0.5mm即可。虽然由于此间隙的存在,定位精度会略有降低,但操作方便、制造简单。2、以“边/孔”定位,对于面积尺寸较大的电路板,可以采用“边/孔”定位,这也属于约束性过定位的一种。定位板限制2个自由度,定位柱限制2个自由度。这种形式中,通常定位柱和UUT定位孔的间隙需要留的更大一些。台州验收测试系统多少钱电源功能测试系统用于验证各类电源的输出性能。
测试对象的功能测试应侧重于所有可直接追踪到用例或业务功能和业务规则的测试需求。这种测试的目标是核实数据的接受、处理和检索是否正确,以及业务规则的实施是否恰当。测试目标 确保测试的业务功能正常,其中包导航性质菜单,数据输入,处理和检索等功能。功能系统测试,根据产品特性、操作描述和用户方案,测试一个产品的特性和可操作行为以确定它们满足设计需求。本地化软件的功能测试,用于验证应用程序或网站对目标用户能正确工作。
印制电路板所使用到的自动测试技术发展迅速,尤其以印制板在线测试系统(ATE)普遍应用于印制板光板及各种产品的印制电路板的生产、检测和维修等为主,如右图。ATE 的测试方法可分接触式测试和非接触式测试两大类。其中接触式测试分为在线测试、功能测试、BIST 和边界扫描测试等;非接触式测试又可分为非向量测试、自动视觉测试、红外热图象测试、X 射线和激光测试。随着计算机技术及VXI 总线技术的应用,各种建立在VXI 测试平台上的印制电路板的ATE 和功能测试也得到迅速发展。人工智能在功能测试中的应用:利用人工智能技术,实现测试过程的自动化和智能化。
全球主要ICT自动测试设备生产厂商主要有Agilent Technologies安捷伦(美国),Teradyne泰瑞达(美国)、Check Sum(美国)、AEROFLEX(美国)、WINCHY莹琦、Hioki(日本)、IFR(AEROFLEX并购)、Takaya(日本)、Tescon(日本), Okano(日本)、系新(中国台湾)、JET(捷智)、Tr(德泰)、SRC星河、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、TTI,NI,APM(全天科技)等等品牌。不同品牌ICT的测试原理相同或相似。功能测试系统可帮助定位产品功能故障和改进设计。浙江在线测试系统有什么用
电路板功能测试:针对电路板上的各个功能模块进行测试,确保电路板性能稳定。集成测试系统设备
电路中采用负载电阻及差分放大电路LM343对测试点进行电压跟随,将测试点的电流值转换为A/D变换电路可以处理的电压量。选用AD7574八位逐次比较式高速A/D变换电路。转换时间为15μS,单+5V电源供电。参考电压选用VREF=-8V。输入电压范围为0~+|VREF|。程序控制芯片RD端产生一个负脉冲就可启动A/D转换。软件模块:测试仪由便携式主控计算机通过串行口进行控制,单片机测试平台的完成激励控制、数据采集等工作,所有数据分析处理及命令控制由便携式主计算机完成。整套测试软件由主控软件、数据通信软件、离线测试软件、在线功能测试软件、在线状态测试软件、VI特性测试软件、节点电压测试软件、电子手册、测试开发软件、系统自检软件等几个主要模块组成。集成测试系统设备