衡泌提供的探针采用品质稳定的原材料，含国产或日本钨材料，有纯钨（99.95-99.98%）、铼钨等原料。我们综合运用电化学、机械加工、电镀工艺，精深加工，确保探针一致性。具有高硬度、高弹性模量等特点，检测时无伤原器件，已批量应用于LED芯片检测领域。其导电率、弹性模量、耐用性、光输出性、可靠性和机械稳定性可满足客户定制要求。通常的稀土添加剂有氧化铈、氧化镧、氧化锆、氧化钇和氧化钍等。钨是一种金属，是天然存在在地球上。它也被称为钨及有W的它被确定为1781年的新元素的化学符号，并初次分离为在1783年的金属。钨探针主要用于半导体的较终测试阶段。芯片测试

目前，纳米探针多采用钨丝制备而成，并且制备方法有多种，如：机械剪切法、机械研磨法、场蒸发方法、离子轰击方法、电火花加工、电化学腐蚀法等。电化学腐蚀法是常用的制备钨材质探针的方法，该方法原理及设备简单、容易实现，可控性较好，成本较低。铼钨探针指的是采用含铼3%的铼钨合金丝打造而成的探针。这种探针的针尖尖部经过特殊工艺加工而成，针锥精度高，具有强度高和弹性模量，产品更耐磨、更耐腐蚀，表面光滑无伤，光洁度可达到Ra0.25以下，几乎为镜面。根据微操作系统的使用特点，钨探针不仅要具有较大的长径比，还要具有较高的力学强度，以避免探针在使用过程中弯曲、断裂。黄石探针联系人探针具有的优点：具有强度高。

探针卡是一种用于晶圆测试的工具，通常由一测试电路板和位于电路板上的针尖弯折成95-105度的锥形钨针构成。测试时，将钨探针的针头直接接触被测晶圆的衬垫，从而实现对晶圆的电性能测试。这种探针的针尖尖部经过特殊工艺加工而成，针锥精度高，具有强度高和弹性模量，产品更耐磨、更耐腐蚀，表面光滑无伤，光洁度可达到Ra0.25以下，几乎为镜面。铼钨探针有不同的针尖类型，即不同的尖部形状，例如，针尖带平台，针尖完全尖以及针尖为圆弧。

使用探针法测量材料电阻率的探针头结构改进，可以用于对半导体材料、功能材料、导电薄膜的电阻率及薄层电阻的测量。电阻率是半导体材料的主要质量参数之一，目前多采用探针法来测量，探针法是将金属探针压在材料晶体表面上，所加电流通过外金属探针与晶体表面接触点流到材料晶体内，通过测量内探针之间电位降，从而计算出电阻率或方块电阻，为了保证测量的准确性和重复性，除了对探针的定位及运动机构需要有极高的精度外，探针还要求具有稳恒的外加压力和良好的电接触。随着探针开始接触并逐渐深入焊点氧化物和污染物的表层，接触电阻减小而电流流动迅速开始。

铼钨探针有不同的针尖类型，即不同的尖部形状，例如，针尖带平台，针尖完全尖以及针尖为圆弧；探针直径为0.05-1.2mm，长度为15-300mm，尖部为0.08-100μm。铼钨探针主要应用于半导体、LED、LCD等行业，应用于探针卡、探针台、芯片测试、晶圆测试和LED芯片测试等领域。半导体探针的设计结合了产品的导电性能和硬质度，从而形成了一种可具。电子探针是一种分析仪器，可以用来分析薄片度中矿物微区的化学组成。该仪器将高度聚焦电子束聚焦在矿物上，激发组成矿物元素的特征X射线。用分光器或检波器测定荧光X射线的波长，并将其强度与标准样品对比，或根据不同强度校正直接计数出组分含量。我们的针尖范围从微米级到纳米级，针尖曲率半径Min可控为50纳米。纳米铼钨探针制作

PCB弹簧探针通用性强，普遍性广，通过线路和线路间电阻或电容的比较来判断线路板是否有关短路等。芯片测试

钨探针：我们生产的纯钨探针、铼钨探针、Paliney7合金探针，主要应用于IC、LED、LCD等芯片检测以及晶圆检测等行业。适用于各类Pad表面。衡泌采用品质稳定的原材料，可按照不同客户的多样要求，提供国产或日本钨材料，有纯钨（99.95-99.98%）、铼钨等原料。通常情况下，测量仪器引进一些噪声或测量误差。而更可能导致误差的原因是系统的其它部件，其中之一可能是，它会受探针参数的影响，如探针的材料、针尖的直径与形状、焊接的材质、触点压力、以及探针台的平整度。此外，探针尖磨损和污染也会对测试结果造成极大的负面影响。芯片测试

    上海衡泌金属材料有限公司创立于2013年，是一家专业从事钨、钼、钽等难熔金属原料及零部件生产、销售的现代化企业。专注钨钼及其合金的精深加工,为客户提供钨钼钽零部件解决方案。

     拥有一批难熔金属零部件生产加工专业人员,引进精密生产和检测设备，在钨钼原料配方及生产制程、钨钼不规则零件结构的制造方法上，可满足客户的定制需求，得到客户普遍好评。产品已批量应用于机械制造及焊接、电光源与电真空、半导体、医疗工程、汽车工业、****、电器制造、真空镀膜、新能源、环保等领域。

强调完善的客户服务理念，保持长期对市场的调研学习，开发新产品、新应用领域，加工精度控制在0.001mm，可以按照图纸或样品设计加工钨钼零部件，为客户提供多样化的产品与定制服务。