纳米探针多采用钨丝制备，并且制备方法有比较多种，如：机械剪切法、机械研磨法、场蒸发方法、离子轰击方法、电火花加工、电化学腐蚀法等。电化学腐蚀法是常用的制备钨材质探针的方法，该方法原理及设备简单、容易实现，可控性较好，成本较低。根据微操作系统的使用特点，钨探针不仅要具有较大的长径比，还要具有较高的力学强度，以避免探针在使用过程中弯曲、断裂。探针的长径比决定了STM测量高深宽比微纳结构的能力。优良的STM探针应具备：较高的谐振频率；只有一个稳定的原子而不是多重针尖的。汽车线束测试探针：专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0-3.5mm之间，电流在3-50A。LED点测探针联系人

电子探针可以对试样中微小区域（微米级）的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描（得到层成分分布信息）、面扫描分析（得到成分面分布图像）。还能全自动进行批量（预置9999测试点）定量分析。探针是一小段单链DNA或者RNA的片段（大约是20到500bp），用于检测与其互补的核酸序列。双链DNA加热变性成为单链，随后用放射性同位素（通常用磷-32）、荧光染料或者酶（如辣根过氧化物酶）标记成为探针。磷-32通常被掺入组成DNA的四种核苷酸之一的磷酸基团中，而荧光染料和酶与核酸序列以共价键相连。北京GGB硬探针探测钨针和解剖针则为带尖头的针状。

测试探针的种类有PCB探针、ICT功能测试探针（汽车线束测试探针、电池针、电流电压针、开关针、电容极性针、高频针）、BGA测试探针等 探针根据电子测试用途可分为：A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品；B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针。 根据产地不同又分为美国QA探针、美国ECT探针、美国IDI探针等，德国INGUN探针，德国PTR探针等，韩国LEENON探针，中国台湾CCP中国探针，中国台湾UC佑传探针等。

探针是一种由针头(Plunger)和针管(Tube)以及弹簧(Spring)三个基本部件通过精密仪器铆压之后形成的弹簧式探针，又称作弹簧针、弹簧顶针、弹簧探针、Spring Loaded、PogoPin连接器。这种探针的针尖尖部经过特殊工艺加工而成，针锥精度高，具有高强度和弹性模量，产品更耐磨、更耐腐蚀，表面光滑无伤，光洁度可达到Ra0.25以下，几乎为镜面。铼钨探针有不同的针尖类型，即不同的尖部形状，例如，针尖带平台，针尖完全尖以及针尖为圆弧；晶圆探针卡是一种用于晶圆测试的工具。

晶圆测试是对芯片上的每个晶粒进行针测，在检测头装上以钨材料制成的钨探针，与晶粒上的接点接触，测试其电气特性，不合格的晶粒会被标上记号，而后当芯片依晶粒为单位切割成独立的晶粒时，标有记号的不合格晶粒会被淘汰，不再进行下一个制程，以免徒增制造成本。这意味着晶圆探测钨针的好坏将在很大程度上影响到产出的集成电路的优良率和效率。探针卡是一种用于晶圆测试的工具，通常由一测试电路板和位于电路板上的针尖弯折成95-105度的锥形钨针构成。测试时，将钨探针的针头直接接触被测晶圆的衬垫，从而实现对晶圆的电性能测试。垂直探针：垂直型探针一般直径在2.54mm-1.27mm之间。大连探针联系方式

大电流探针：其特点是测试电流大，测试条件温度高。LED点测探针联系人

探针显微镜是在扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜（原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等）的一种统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器，是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技术、精密机械设计和加工、自动控制技术、数字信号处理技术、应用光学技术、计算机高速采集和控制及分辨图形处理技术等现代科技成果的光、机、电一体化的高科技产品。LED点测探针联系人

    上海衡泌金属材料有限公司创立于2013年，是一家专业从事钨、钼、钽等难熔金属原料及零部件生产、销售的现代化企业。专注钨钼及其合金的精深加工,为客户提供钨钼钽零部件解决方案。

     拥有一批难熔金属零部件生产加工专业人员,引进精密生产和检测设备，在钨钼原料配方及生产制程、钨钼不规则零件结构的制造方法上，可满足客户的定制需求，得到客户普遍好评。产品已批量应用于机械制造及焊接、电光源与电真空、半导体、医疗工程、汽车工业、国防军工、电器制造、真空镀膜、新能源、环保等领域。

强调完善的客户服务理念，保持长期对市场的调研学习，开发新产品、新应用领域，加工精度控制在0.001mm，可以按照图纸或样品设计加工钨钼零部件，为客户提供多样化的产品与定制服务。