钨探针主要用于半导体的较终测试阶段。用来连接芯片和测试板的钨探针是影响接触和电气特性的一个重要因素。通俗来说，探测钨针的存在是为了识别良品和不良品。钨针通常被安装在探针卡或探针台上。它被制成具有精细的前列形状。这是为了让它在与芯片接触时不对芯片电极本身造成损伤。上海衡泌金属材料有限公司创立于2013年，是一家专业从事钨、钼、钽等难熔金属原料及零部件生产、销售的现代化企业。更多关于钨探针的咨询可以到我们公司的官网查看。高电流探针：探针直径在2.54mm-4.75mm之间。大的测试电流可达39amps。浙江晶圆检测钨探针

目前，纳米探针多采用钨丝制备而成，并且制备方法有多种，如：机械剪切法、机械研磨法、场蒸发方法、离子轰击方法、电火花加工、电化学腐蚀法等。电化学腐蚀法是常用的制备钨材质探针的方法，该方法原理及设备简单、容易实现，可控性较好，成本较低。铼钨探针指的是采用含铼3%的铼钨合金丝打造而成的探针。这种探针的针尖尖部经过特殊工艺加工而成，针锥精度高，具有强度高和弹性模量，产品更耐磨、更耐腐蚀，表面光滑无伤，光洁度可达到Ra0.25以下，几乎为镜面。根据微操作系统的使用特点，钨探针不仅要具有较大的长径比，还要具有较高的力学强度，以避免探针在使用过程中弯曲、断裂。芯片检测钨探针联系人探针有耐高温，导电性好等优点。

钨熔点高(3683℃±20℃)，电子发射能力强，弹性模量高，蒸气压低，故比较早就被用作热电子发射材料。纯金属钨极的发射效率比较低，且在高温下再结晶形成等轴状晶粒组织而使钨丝下垂、断裂。为克服上述缺点，适应现代工业新技术、新工艺的发展，各国材料工作者正致力于研究和开发各种新型电极材料。以钨为基掺杂一些电子逸出功低的稀土氧化物，既能提高再结晶温度，又能启动电子发射。稀土金属氧化物具有优良的热电子发射能力，稀土钨电极材料一直是替代传统放射性钍钨电极材料的开发方向。

探针显微镜是在扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜（原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等）的一种统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器，是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技术、精密机械设计和加工、自动控制技术、数字信号处理技术、应用光学技术、计算机高速采集和控制及分辨图形处理技术等现代科技成果的光、机、电一体化的高科技产品。大电流探针：其特点是测试电流大，测试条件温度高。

芯片测试工艺属于半导体产业的关键领域，我们采用纯钨、钨铼、Paliney7等原料制成的探针，适用于各类Pad表面，其中钨、钨铼探针具有高纯度、高硬度、高弹性模量等特点。衡泌的探针已批量应用于IC、晶圆、LED检测及科研等领域。在电子显微镜下的样品制备金属探针规格，是依据不同针尖的半径，针尖2um以下的针身直径以及针身长来定义针身。有两种的针身直径，两种不同的针锥长，两种针锥型式，以及四种不同的曲率半径供客户做选择。公司可以根据客户要求定制不同应用领域探针，在尖部处理、弯折成型、开槽等精深加工方面，针尖Min控制在0.05um（50纳米），锥部光洁度Ra0.25以下（几乎为镜面），也可按客户要求整体或局部镀镍锡金等、压铸铜套和不锈钢套等定制服务。大电流探针主要应用于高温高电流的在线测试领域。芯片检测钨探针联系人

探针具有高硬度、高弹性模量、无伤原器件等特点。浙江晶圆检测钨探针

探针主要类型有：悬臂探针和垂直探针。悬臂探针：劈刀型和环氧树脂型。垂直探针：垂直型探针一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试．也称ICT测试和FCT测试。也是目应用较多的一种探针。界面探针非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，例如泰瑞达和安捷伦。用于测试机台与测试夹具的接触点和面。微型探针两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm。浙江晶圆检测钨探针

    上海衡泌金属材料有限公司创立于2013年，是一家专业从事钨、钼、钽等难熔金属原料及零部件生产、销售的现代化企业。专注钨钼及其合金的精深加工,为客户提供钨钼钽零部件解决方案。

     拥有一批难熔金属零部件生产加工专业人员,引进精密生产和检测设备，在钨钼原料配方及生产制程、钨钼不规则零件结构的制造方法上，可满足客户的定制需求，得到客户普遍好评。产品已批量应用于机械制造及焊接、电光源与电真空、半导体、医疗工程、汽车工业、****、电器制造、真空镀膜、新能源、环保等领域。

强调完善的客户服务理念，保持长期对市场的调研学习，开发新产品、新应用领域，加工精度控制在0.001mm，可以按照图纸或样品设计加工钨钼零部件，为客户提供多样化的产品与定制服务。