珠宝和古籍检测领域ProSp 系统通过测量样品的反射、荧光或拉曼光谱，进行种类识别和真假鉴定。这使得系统能够处理珠宝、古籍等样品，帮助鉴定其成分和真伪。6. 半导体发光二极管ProSp 系统能够测量半导体发光二极管的电致发光量子效率，适用于 OLED、QLED 和 PeLED 等发光器件。这使得系统能够处理半导体材料，帮助研究人员评估其发光性能。7. 微纳结构材料和器件ProSp 系统能够测量微纳结构材料的反射率、透射率和散射特性，适用于薄膜材料、滤光片和表面等离子体耦合共振器件。这使得系统能够处理微纳结构材料，帮助研究人员分析其光学特性。8. 发光材料和器件ProSp 系统能够测量发光材料和器件的光谱特性，适用于 LED 光源和液晶显示材料。这使得系统能够处理发光材料，帮助研究人员评估其发光效率和光谱分布。总结ProSp 系统凭借其多功能性和高灵敏度，能够处理多种类型的材料，广泛应用于材料科学、生物医学、环境监测和工业检测等领域。其在微流控、农业、激光材料、光子晶体、珠宝检测、半导体发光二极管、微纳结构材料和发光材料等领域的广泛应用，展示了其强大的性能和灵活性。材料研究领域：通过分析材料微观区域的光谱，研究其特性。沈阳显微Mapping光谱专谱光电网站

对于传统积分球式的光致发光及电致发光量子效率测试系统，我们使用积分球收集电致发光器件的发射光，光谱仪分析其强度，根据不同波长计算其光子数，根据发射光子数与经过器件的电流载流子数的比值，我们可以计算出样品的电致发光量子效率 EQE 。因此，针对于不同发光强度及样品区域的需求， 我们开发了这套 ProSp-ELQY 电致发光量子效率测试系统。ProSp-ELQY电致发光量子效率测试系统可变光强量子效率测试系统以?？榛悸飞杓?，适合手套箱内使用，应对无论是OLED，QLED，PeLED发光器件，可在器件制备的全流程中进行器件测试，测试系统经过可溯源的光源进行定标，能够进行准确的***量子产率，色度，和光谱测量。湖北结构色器件专谱光电测量系统荧光光谱范围覆盖300-2500nm，拉曼光谱波长范围覆盖250-2500nm，反射光谱范围覆盖350-2500nm。

专谱量子效率测试系统是一种用于测量光电器件和材料量子效率的高性能设备。它广泛应用于太阳能电池、光电探测器、LED、光电器件的研发和质量控制。以下是其主要特点和功能：测量方法：外量子效率（EQE）：衡量光电器件从外部光源接收光子并转换为电子的效率，包括光吸收、电子迁移、表面反射等多个因素。内量子效率（IQE）：*考虑光电器件内部的光电转换效率，排除了因光的反射或透射而造成的损失。光谱范围：250-2500 nm。高灵敏度探测器：采用高灵敏度的光电二极管或光电倍增管。自动化控制：集成自动化控制功能，能够进行大规模、高通量的测试。多种测量功能：支持量子效率、光谱响应、IV特性等多种测量。

生物光学和量子光学专谱光电在生物光学和量子光学领域也有丰富的经验，提供多种解决方案，包括：共聚焦激光扫描显微系统：如 ProSp-Con50i，用于高分辨率成像。SERS 基底：用于表面增强拉曼光谱测量，适用于痕量分析和医学诊断。4. 光电检测设备专谱光电还提供多种光电检测设备，包括：功率计和能量计：用于测量光功率和能量。光束分析仪：用于分析光束质量。光电探测器：用于高灵敏度光检测。5. 实验样品专谱光电提供多种实验样品，包括：荧光粒子：用于生物医学研究。单粒子：适用于科研领域。功能化颗粒：用于多种实验应用。总结专谱光电的产品线涵盖了从光谱仪器到激光器系统，再到光电检测设备和实验样品的多个领域。其产品在科研、工业和环境监测等领域具有广泛的应用，为用户提供了***的解决方案。SERS 基底：用于表面增强拉曼光谱测量，适用于痕量分析和医学诊断。

ProSp 角分辨测试系统自动测量参数ProSp 角分辨测试系统（ProSp-RTM-UV/VIS）能够自动测量多种参数，广泛应用于材料科学、微纳光学、生物技术和矿物分析等领域。以下是其自动测量的参数和功能：自动测量参数反射光谱：上反射：测量从样品表面反射的光谱。下反射：测量从样品背面反射的光谱。透射光谱：测量光通过样品后的透射光谱。辐射光谱：测量样品发出的辐射光谱。散射光谱：测量样品散射的光谱。荧光光谱：测量样品在激发光作用下发出的荧光光谱。角度依赖性参数：入射角：系统可以自动调整入射光的角度，范围为 0-270°。接收角：系统可以自动调整接收光的角度，范围为 0-360°。光子晶体领域：测量微小区域的颜色值或较大区域的颜色分布。安徽PROSP micro40专谱光电厂商

405nm单模光纤耦合激光器 主要特点：体积小，高稳定性，输出功率连续可调节，耦合效率高，光纤可拆卸更换。沈阳显微Mapping光谱专谱光电网站

专谱LIBS（激光诱导击穿光谱）系统是一种先进的光谱分析技术，广泛应用于材料成分分析和元素检测。以下是关于专谱LIBS系统的详细介绍，包括其技术原理、应用领域和系统特点：技术原理LIBS技术通过高能量激光脉冲聚焦于样品表面，使样品表面的少量材料被烧蚀并激发成等离子体。等离子体中的原子和离子在冷却过程中会发射特征光谱，通过光谱仪和检测器对这些光谱进行分析，可以确定样品的元素组成。LIBS技术具有以下特点：无需样品制备：几乎无需对样品进行预处理，适用于固体、液体、气体等多种形态的样品。快速分析：检测速度快，可实现原位检测。多元素分析：能够同时检测多种元素，包括轻元素（如锂、硼）和重元素。高空间分辨率：能够对固体异质材料进行高空间分辨率采样和分析。沈阳显微Mapping光谱专谱光电网站