电激励的锁相热成像系统在电子产业的柔性电子检测中展现出广阔的应用前景,为柔性电子技术的发展提供了关键的质量控制手段。柔性电子具有可弯曲、重量轻、便携性好等优点,广泛应用于柔性显示屏、柔性传感器、可穿戴设备等领域。然而,柔性电子材料通常较薄且易变形,传统的机械检测或接触式检测方法容易对其造成损伤。电激励方式在柔性电子检测中具有独特优势,可采用低电流的周期性激励,避免对柔性材料造成破坏。锁相热成像系统能够通过检测柔性电子内部线路的温度变化,识别出线路断裂、层间剥离、电极脱落等缺陷。例如,在柔性显示屏的检测中,系统可以对显示屏施加低电流电激励,通过分析温度场分布,发现隐藏在柔性基底中的细微线路缺陷,确保显示屏的显示效果和使用寿命。这一技术的应用,有效保障了柔性电子产品的质量,推动了电子产业中柔性电子技术的快速发展。锁相热成像系统借电激励,捕捉细微温度变化辨故障。检测用锁相红外热成像系统成像
锁相热成像系统凭借电激励在电子产业的芯片封装检测中表现出的性能,成为芯片制造过程中不可或缺的质量控制手段。芯片封装是保护芯片、实现电气连接的关键环节,在封装过程中,可能会出现焊球空洞、引线键合不良、封装体开裂等多种缺陷。这些缺陷会严重影响芯片的散热性能和电气连接可靠性,导致芯片在工作过程中因过热而失效。通过对芯片施加特定的电激励,使芯片内部产生热量,缺陷处由于热传导受阻,会形成局部高温区域。锁相热成像系统能够实时捕捉芯片表面的温度场分布,并通过分析温度场的相位和振幅变化,生成清晰的缺陷图像,精确显示出缺陷的位置、大小和形态。例如,在检测 BGA 封装芯片时,系统能准确识别出焊球中的空洞,即使空洞体积占焊球体积的 5%,也能被定位。这一技术的应用,帮助芯片制造企业及时发现封装过程中的问题,有效降低了产品的不良率,提升了芯片产品的质量。半导体锁相红外热成像系统用户体验电激励的脉冲宽度与锁相热成像系统采样频率需匹配,通过参数优化可大幅提高检测信号的信噪比和清晰度。
锁相热成像系统是一种将光学成像技术与锁相技术深度融合的先进无损检测设备,其工作原理颇具科学性。它首先通过特定的周期性热源对被测物体进行激励,这种激励可以是光、电、声等多种形式,随后利用高灵敏度的红外相机持续捕捉物体表面因热激励产生的温度场变化。关键在于,系统能够借助锁相技术从繁杂的背景噪声中提取出与热源频率相同的信号,这一过程如同在嘈杂的环境中捕捉到特定频率的声音,极大地提升了检测的灵敏度。即便是物体内部微小的缺陷,如材料中的细微裂纹、分层等,也能被清晰识别。凭借这一特性,它在材料科学领域可用于研究材料的热性能和结构完整性,在电子工业中能检测电子元件的潜在故障,应用场景十分重要。
在电子行业,锁相热成像系统为芯片检测带来了巨大的变革。芯片结构精密复杂,传统的检测方法不仅效率低下,还可能对芯片造成损伤。而锁相热成像系统通过对芯片施加周期性的电激励,使芯片内部因故障产生的微小温度变化得以显现,系统能够敏锐捕捉到这些变化,进而定位电路中的短路、虚焊等故障点。其非接触式的检测方式,从根本上避免了对精密电子元件的损伤,同时提升了芯片质检的效率与准确性。在芯片生产的大规模质检中,它能够快速筛选出不合格产品,为电子行业的高质量发展提供了有力支持。电激励强度可控,保障锁相热成像系统检测安全。
在当今科技飞速发展的时代,电子设备的性能与可靠性至关重要。从微小的芯片到复杂的电路板,任何一个环节出现故障都可能导致整个系统的崩溃。在这样的背景下,苏州致晟光电科技有限公司自主研发的实时瞬态锁相热分析系统(RTTLIT)应运而生,犹如一颗璀璨的明星,为电子行业的失效分析领域带来了全新的解决方案。
致晟光电成立于 2024 年,总部位于江苏苏州,公司秉持着 “需求为本、科技创新” 的理念,专注于电子产品失效分析仪器设备的研发与制造。 高灵敏度红外相机( mK 级),需满足高帧率(至少为激励频率的 2 倍,遵循采样定理)以捕捉周期性温度变化。显微锁相红外热成像系统联系人
电激励作为一种能量输入方式,能激发物体内部热分布变化,为锁相热成像系统捕捉细微温差提供热源基础。检测用锁相红外热成像系统成像
锁相热成像系统与电激励结合,为电子产业的芯片失效分析提供了一种全新的方法,帮助企业快速定位失效原因,改进生产工艺。芯片失效的原因复杂多样,可能是设计缺陷、材料问题、制造过程中的污染,也可能是使用过程中的静电损伤、热疲劳等。传统的失效分析方法如切片分析、探针测试等,不仅操作复杂、耗时较长,而且可能会破坏失效芯片的原始状态,难以准确找到失效根源。通过对失效芯片施加特定的电激励,模拟其失效前的工作状态,锁相热成像系统能够记录芯片表面的温度变化过程,并将其与正常芯片的温度数据进行对比分析,从而找出失效位置和失效原因。例如,当芯片因静电损伤而失效时,系统会检测到芯片的输入端存在异常的高温区域;当芯片因热疲劳失效时,会在芯片的焊接点处发现温度分布不均的现象。基于这些分析结果,企业可以有针对性地改进生产工艺,减少类似失效问题的发生。检测用锁相红外热成像系统成像