VR测量仪是基于虚拟现实（VR）技术构建的智能化测量系统，通过集成光学成像、深度感知、三维建模等技术，实现对物理对象的高精度数字化测量与虚拟重构。其原理是利用双目立体视觉模拟人类双眼视差，结合结构光投射、激光扫描或ToF（飞行时间）传感器获取物体表面的三维坐标数据，再通过算法构建1:1比例的虚拟模型，然后输出几何尺寸、空间位置、表面纹理等多维度测量结果。典型设备如基恩士VR-6000系列，可在0.1秒内完成80万点的三维点云数据采集，分辨率达0.1微米，支持对复杂曲面、深腔结构、柔性物体的非接触式测量。VR 测量借助先进传感器，精确捕捉空间数据，为虚拟场景构建提供可靠尺寸依据 。上海AR测量仪修正

VR显示模组的性能评估需兼顾静态指标与动态环境适应性，这要求检测设备具备多维度测量能力。基恩士VR-6000搭载的HDR扫描算法突破了传统光学测量的限制，可同时处理高反光材质的镜面反射与弱反光黑色材质的低对比度信号，动态范围扩大至1000倍。瑞淀光学2025年推出的XRE-23镜头则针对AR/VR场景优化，不仅支持镜片的模拟测量，还能通过151MP成像色度计实现亚像素级亮度与色彩捕捉，满足头显对EYE-BOX均匀性的严苛要求。此外，虚像距测量仪VID-100通过自动对焦与距离校正技术，在米至无限远范围内实现±的测量精度，尤其适用于HUD抬头显示与AR眼镜的虚像距离标定。这些技术的融合使检测设备能够覆盖从实验室研发到量产线品控的全生命周期需求。上海VID测试仪售后HUD 抬头显示虚像测量设备不断升级，测量精度与稳定性明显提升 。

在技术实现上，XR 光学测量融合了精密物理测量与仿真分析：一方面，借助激光干涉仪、共焦显微镜等设备对光学元件进行纳米级面形检测，利用光谱仪验证镀膜材料的波长响应特性；另一方面，通过 Zemax 等光学设计软件模拟光路，预判像差与杂散光问题，并结合积分球、亮度计等实测设备，验证光机模组在不同场景下的综合性能（如 VR 的大视场角沉浸感、AR 的虚实融合清晰度）。此外，针对光学系统与摄像头、传感器的协同效率，还需通过眼动仪、环境光传感器等进行跨系统联动测试，确保交互精度与使用稳定性。

VR光学技术沿“传统透镜-菲涅尔透镜-折叠光路”路径升级，检测重点随技术迭代持续变化。传统透镜需关注曲面精度与色散控制，菲涅尔透镜侧重环带结构均匀性与注塑工艺良率，而折叠光路（Pancake）方案因引入偏振片、半透半反膜等多层结构，检测难点转向光程误差、偏振效率一致性及变焦机构可靠性。新兴技术如液晶偏振全息、异构微透镜阵列、多叠折返式自由曲面光学等，对检测设备的纳米级精度、复杂光路模拟能力提出更高要求。同时，VR显示方案（Fast-LCD/MiniLED/硅基OLED/MicroLED）与光学系统的匹配性检测亦至关重要，需通过光学仿真与实际佩戴测试平衡画质、功耗与体积，推动硬件轻薄化与成本下降。VR 近眼显示测试关注设备兼容性，适配多种硬件与软件 。

AR光学因需实现虚拟与现实融合，检测逻辑与VR存在明显的差异。其方案如光波导、自由曲面棱镜等，需重点检测透光率、眼动追踪精度、环境光干扰抑制能力，以及双目视差校准的一致性。以HoloLens为例，光学成本占比达47%，检测需覆盖微米级波导纹路精度、衍射效率均匀性，以及摄像头与光学系统的空间坐标系校准。此外，AR头显的轻量化设计（如单目/双目配置、分体式结构）对光学元件的小型化与集成度提出挑战，检测需兼顾微型化元件的表面缺陷（如亚微米级划痕）与整体光路的像差控制，确保在工业巡检、教育交互等场景中实现精确虚实叠加。新型虚像距测量系统结构简单，测量速度快，精度有保障 。VR光学测试仪代理

AR 测量的量角器功能，精确测量各种角度，满足专业需求 。上海AR测量仪修正

虚像距测量主要依赖三大技术路径：几何光学法：通过辅助透镜构建等效光路，将虚像转换为实像后测量。例如，测量凹透镜的虚像距时，可在其后方放置凸透镜，使发散光线汇聚成实像，再通过物距像距公式反推原虚像位置。物理光学法：利用干涉仪、全息术等手段，通过分析光的波动特性间接测量虚像距。如迈克尔逊干涉仪可通过干涉条纹的偏移量计算光路变化，进而确定虚像的位置偏差。现代光电法：借助CCD/CMOS传感器与图像处理算法，实时捕捉光线分布并拟合虚像位置。例如，在AR光学检测中，通过高速相机拍摄人眼观察虚拟图像时的角膜反射光斑，结合双目视觉算法计算虚像距，实现非接触式高精度测量（精度可达±50μm）。上海AR测量仪修正