文章中否认“元器件镀金引线/焊端除金处理”的必要性和可行性，问我知不知道此事，我说知道。范总说该文几经转载流传国外，对我国航天/航空等高可靠电子产品的可靠性提出了质疑，造成了工作上的被动局面，也对国内电子装联技术业界起到了误导作用。我对范总说，针对《试论电子装联禁（限）用工艺的应用》中的错误观点，我从2011年11月起陆续在百度文库和深圳《现**面贴装咨询》发表了《再论镀金引线除金处理的必要性与可行性》《三论电子元器件镀金引线的“除金”处理》等三篇**，受到高度关注，浏览者众多，下载者踊跃；为了满足广大业内朋友的要求，笔者在2013年第七届**SMT**论坛上发表了《SMD与HDI电连接器镀金引线/焊杯去金处理》**，对五年来有关“除金”问题的争论进行***的总结。禁限用工艺的实施事关高可靠电子产品的可靠性。范总对我说，他已电告该所质量处长，强调必须坚持禁限用工艺规定的要求，镀金引线/焊端在用铅锡合金焊接前必须按要求进行“除金”处理。2.对GJB/Z163《印制电路组件装焊工艺技术指南》第“关于镀金引脚器件的处理要求”的剖析业界内有人对元器件镀金引脚“除金”处理的必要性提出质疑。搪锡层平整度的提高可以增强产品的抗腐蚀性、导电性和美观度，提升产品性能。北京国产搪锡机配件

金脆化是一种无法目测的异常。当分析确定所发现的状况为金脆时，金脆应当被视为缺陷，参见IPC-HDBK-001或IPC-AJ-820指南手册。除上述情况，遇到下述情况应当进行除金处理：a.通孔元器件引线至少95%待焊表面上有厚度大于；以及所有采用手工焊接的通孔引线，无论金层有多厚。b.表面贴装元器件95%的待焊表面有金，而无论金层有多厚。c.焊接端子的的待焊表面有厚度大于，无论金层有多厚。将元器件安装到组件之前，双上锡工艺或动态焊料波可用于除金。注：当焊料量少或焊接的过程停留时尚不足以使金充分溶解到整个焊点中时，无论金层有多厚，都会产生金脆焊接连接。七.结语“在需要钎接部位的金涂敷层，应在钎接之前全部消除，因为这种脆性的金-锡化合物所构成的连接部，是特别不可靠的。因此现在凡是需要锡焊的表面都不允许镀金，原来已有的也必须除去”是国内外众多**和民品锡焊时的标准规定；然而人们对“金脆化”的危害性认识严重不足，有的甚至把“金脆化”误认为是“虚焊”，从而对已经在国内外各类标准中反复强调的除金要求重视不够。对于普通民用电子产品，例如上面详细叙述的发生在手机镀金天线簧片，由于未除金，导致焊接面发现存在明显的不润湿或反润湿现象。北京国产搪锡机配件搪锡机的锡膏制备方法通常包括以下步骤：熔化锡块：首先将锡块放入熔锡炉中熔化成液体状态。

从而减少集成电路ic搪锡时的热冲击。所述预热装置可不是本发明改进要点，可以采用现有技术来实现。根据需要，在进行预热前通过粘助焊剂装置对密集引脚器件的引脚粘助焊剂，便于后序预热和搪焊。根据需要，所述搪锡系统还包括对搪焊引脚上助锡剂的上助锡剂装置和对搪焊引脚进行预热的预热装置，其中上助锡剂装置和预热装置不是本发明的发明点，其采用现有技术来实现，不再赘述。以上实施例*用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，而这些修改或替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

所述搪锡系统还包括对搪焊引脚进行预热的预热装置。本发明搪锡喷嘴和搪锡装置，其中搪锡喷嘴包括使设有出锡口的喷嘴本体，所述喷嘴本体设有使液态焊锡从其表面锡流形成焊锡膜的弧形斜面，该焊锡膜的厚度自上而逐渐变薄。由于所述喷嘴本体外侧表面设有为弧形斜面，在出锡量为恒定时，流经具有弧形斜面的喷嘴本体时，形成自上而下逐渐变薄的锡膜。搪锡时根据引脚密集确定引脚通过锡膜的位置进行搪锡，又能通过表面弧面结构保证搪锡时，器件的引脚面与弧形斜面接触面较小，同时在锡流自上而上流动中产的动量共同作用下，使得在搪焊过程中不容易在两引脚之间形成连锡现象，避免搪焊时出现连锡现象。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，描述中的附图*示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1是搪锡喷嘴实施例结构示意图。图2是本发明搪锡装置时与喷嘴位置关系示意图。图3是本发明密集引脚器件搪锡时与喷嘴位置剖视示意图。产品质量的稳定性：更换除金工艺可能会对产品的质量产生影响。

该焊锡膜c的厚度自上而逐渐变薄。具本地说，本发明中的密集引脚器件b是指具有密集引脚的器件，如集成电路ic；所述密集引脚b1是指引脚之间的间隙较小。由于所述喷嘴本体1外侧表面设有为弧形斜面13，该出锡口11出锡量为恒定时，流经具有弧形斜面10的喷嘴本体1时，形成自上而下逐渐变薄的锡膜c。在搪锡时根据引脚密集情况确定引脚通过不同厚度的锡膜c位置进行搪锡，又能通过表面弧形斜面10结构保证在搪锡时，密集引脚器件b的引脚b1与弧形斜面10接触面较小，不同时由于锡流从出锡口11上自下f方向流动，其生产一定的动量，使得在搪焊过程中不容易在两引脚之间形成连锡现象，避免搪焊时出现连锡现象。所述锡膜在喷嘴本体11弧形斜面10的厚度和搪锡时与焊锡接触位置可以根据出锡量和流经弧形斜面11面积通过有限次的试验和获得经验值进行确定。所述喷嘴本体1可以采用如下结构，该喷嘴本体1外侧由弧形斜面10形成圆锥形，所述出锡口11位于锥形喷嘴的顶部。根据需要，所述喷嘴本体11弧形斜面10至少设有一折流槽12，该折流槽12将弧形斜面10分成两个不连续的***弧形斜面13和第二弧形斜面14.由于折流槽12可以使锡流沿f方向从第二弧形斜面14表面下来具有一定阻力。锡粉纯度不足：如果锡粉的纯度不足，其中含有的杂质如铁、铜等过量，会导致锡膏的焊接性能下降。北京国产搪锡机配件

搪锡可以用于保护金属制品的表面，提高其抗氧化性能，防止金属表面被氧化；北京国产搪锡机配件

引脚间距**小）及“QFP”搪锡工艺6）通孔元件的搪锡工艺—“平波喷嘴”系统工作时需要定位工装配套使用，在加工过程中利用工装将元件固定。通过程序控制自动运行完成搪锡过程。首先,工装带着元件移动至助焊剂工作站，浸沾助焊剂后对元件进行必要的预热;然后进入***镀层锡锅，去除已有涂层。当元件引脚浸***镀层锡锅中时，工装带动元件进行由锡锅的一侧向另一侧的反复移动过程，产生的“涮洗”的动作,有助于将需要去除的镀层溶解到净化锡锅中。完成后，托盘回到助焊剂工作站，再次让引脚浸沾助焊剂后，进入搪锡锡锅，开始进行**终的搪锡作业。7）Chips、LCCs和MELFs的“Drag”搪锡工艺—“瀑布形波峰喷嘴”如果使用通孔元件的浸焊工艺对此类元件进行搪锡作业，由于表面张力的作用会使得引脚上残留过多的焊料。而利用平波“Drag”工艺，能够有效地完成此类元件的搪锡工作。当元件贴着波峰在通过、离开时，a焊料向下移动的动作会将吸附在引脚上的多余焊料带走，使得拖焊后LCC上的焊盘共面性和芯片接头尺寸满足各种工艺的要求。在“Drag”工艺中，也会用到两个锡锅。8）精密引脚间距QFP的搪锡工艺—“侧向波峰喷嘴”QFP元件通过滑块QFP定位系统移动到拾取位置。真空吸嘴。北京国产搪锡机配件