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为本实用新型挡液板结构其二较佳实施例的宣泄孔排列示意图，以及其三较佳实施例的宣泄孔排列示意图，在本实用新型其二较佳实施例中，开设于该第二挡板12上的宣泄孔121亦呈千鸟排列的直通孔态样，且位于同一列的宣泄孔121之间具有相同的距离，例如：图4中所示的w...

上述硅烷系偶联剂的选择方法的特征在于，选择上述硅烷系偶联剂的反应位点(activesite)的数量除以上述硅烷系偶联剂的水解(hydrolysis)形态的分子量之后乘以。以下，通过实施例更加详细地说明本发明。但是，以下的实施例用于更加具体地说明本发明，...

本实用涉及蚀刻设备技术领域，具体为一种ito蚀刻液制备装置。背景技术：蚀刻是将材料使用化学反应或物理撞击作用而移除的技术，蚀刻技术分为湿蚀刻和干蚀刻，其中，湿蚀刻是采用化学试剂，经由化学反应达到蚀刻的目的，薄膜场效应晶体管液晶显示器(tft～lcd)、...

技术实现要素：本实用新型所解决的技术问题即在于提供一种挡液板结构与以之制备的蚀刻设备，尤其是指一种适用于湿式蚀刻机的挡液排液功能且增加其透气性以降低产品损耗的挡液板结构与以之制备的蚀刻设备，主要借由具有复数个宣泄孔的挡液板结构搭配风刀装置的硬体设计，有...

过滤器的出液管自动上行离开储存罐，将装满的储存罐从铝蚀刻液生产车间移动至自动灌装车间中，将灌装头的快速接头插入储存罐的出液口中便可将储存罐内的铝蚀刻液分装。本实用新型除上述技术方案外，还包括以下技术特征：进一步的是，所述地磅的顶部平台中设置有两条卡块，...

为本实用新型挡液板结构其二较佳实施例的宣泄孔排列示意图，以及其三较佳实施例的宣泄孔排列示意图，在本实用新型其二较佳实施例中，开设于该第二挡板12上的宣泄孔121亦呈千鸟排列的直通孔态样，且位于同一列的宣泄孔121之间具有相同的距离，例如：图4中所示的w...

对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。实施例一，请...

很好的对注入量进行精确控制，提高了该装置的制备纯度。附图说明图1为本实用新型的整体示意图；图2为本实用新型的a处放大示意图；图3为本实用新型的b处放大示意图；图4为本实用新型翻折观察板沿a-a方向的截面示意图。图中：1、制备装置主体，2、高效搅拌装置，...

提高反应体系的稳定性。当体系中加入过氧化氢后有助于提高过氧化氢的稳定性，避免由于过氧化氢分解而引发的，提高生产的安全性。具体实施方式下面结合实施例，对本发明的具体实施方式作进一步描述。以下实施例用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明...

所述制备装置主体的内部中间部位活动连接有高效搅拌装置，所述制备装置主体的一侧中间部位嵌入连接有翻折观察板，所述制备装置主体的底端固定连接有装置底座，所述装置底座的内部底部固定连接有成品罐，所述装置底座的顶端一侧固定连接有盐酸装罐，所述装置底座的顶端另一...

该挡液板结构10包括有一***挡板11、一与该***挡板11接合的第二挡板12，以及一与该第二挡板12接合的第三挡板13，其主要特征在于：该第二挡板12具有复数个贯穿该第二挡板12且错位设置的宣泄孔121。该***挡板11与该第二挡板12呈正交设置，且...

618光电行业ITO**蚀刻液,专门针对氧化铟锡(ITO)玻璃导电薄膜镀层图线的脱膜蚀刻,它对于高阻抗ITO玻璃导电膜(PET-ITO)以及低阻抗ITO玻璃导电膜(PET-ITO)都且有优良的蚀刻速度与效果。具有速度快、侧蚀小、无沉淀、气味小、不攻击抗蚀层,不...

在上述硅烷系偶联剂的含量处于上述含量范围内的情况下，能够调节添加剂本身凝胶化，且获得合适的sio2防蚀和sin蚀刻性能。(c)水本发明的蚀刻液组合物中所包含的上述水可以为用于半导体工序的去离子水，推荐使用18mω/㎝以上的上述去离子水。上述水的含量可以...

按照组成成分和应用工艺不同，湿电子化学品可分为通用性和功能性湿电子化学品。通用湿电子化学品以超净高纯试剂为主，一般为单组份、单功能、被大量使用的液体化学品，按照性质划分可分为：酸类、碱类、有机溶剂类和其他类。酸类包括氢氟酸、硝酸、盐酸、硫酸、磷酸等...

本实用新型涉及光刻胶生产设备，具体是一种光刻胶废剥离液回收装置。背景技术：光刻胶是微电子技术中微细图形加工的关键材料之一，其是由溶剂、感光树脂、光引发剂和添加剂四种成分组成的对光敏感的混合液体。在紫外光、深紫外光、电子束、离子束等光照或辐射下，进行光化...

图3是一现有技术光刻胶剥离去除示意图二，其离子注入步骤。图4是一现有技术光刻胶剥离去除示意图三，其显示离子注入后光刻胶形成了主要光刻胶层和第二光刻胶层。图5是一现有技术光刻胶剥离去除示意图四，其显示光刻胶膨胀。图6是一现有技术光刻胶剥离去除示意图五，其...

避免接触皮肤、眼睛和衣服；存储：密闭存放在阴凉干燥的地方8.防燥和人员保护极限N-Methyl-2-pyrrolidone80mg/m3(19ml/m3)DFGMAK(peaklimitationcategory-II,2)(Vapour)(skin)...

砷化镓也有容易被腐蚀的特点，比如碱性的氨水、酸性的盐酸、硫酸、硝酸等。去胶，也成为光刻胶的剥离。即完成光刻镀膜等处理之后，需要去除光刻胶之后进行下一步。有时直接采用+异丙醇的方式就可以去除。但是对于等离子体处理过的光刻胶，一般就比较难去除干净。有的人把加...

本发明提供的光刻胶剥离去除方法第二实施例，用于半导体制造工艺中，可应用于包括但不限于mos、finfet等所有现有技术中涉及光刻胶剥离去除的生产步骤，主要包括以下步骤:s1，在半导体衬底上淀积一层二氧化硅薄膜作为介质层；s2，旋涂光刻胶并曝光显影，形成...

剥离液是一种通用湿电子化学品，主要用于去除金属电镀或者蚀刻加工完成后的光刻胶和残留物质，同时防止对衬底层造成破坏。剥离液是集成电路、分立器件、显示面板、太阳能电池等生产湿法工艺制造的关键性电子化工材料，下游应用领域，但整体应用需求较低，因此市场规模偏小。剥离液...

砷化镓也有容易被腐蚀的特点，比如碱性的氨水、酸性的盐酸、硫酸、硝酸等。去胶，也成为光刻胶的剥离。即完成光刻镀膜等处理之后，需要去除光刻胶之后进行下一步。有时直接采用+异丙醇的方式就可以去除。但是对于等离子体处理过的光刻胶，一般就比较难去除干净。有的人把加...

光刻作为IC制造的关键一环常常被人重视，但是光刻胶都是作为层被去掉的，如何快速、干净的去除工艺后的光刻胶是一个经常被疏忽的问题，但是很重要，直接影响了产品质量。如何快速有效的去除光刻胶。笔者**近就碰到一些去胶的问题，比如正胶和负胶去除需要的工艺有...

本发明涉及化学制剂技术领域：，特别涉及一种用于叠层晶圆的光刻胶剥离液。背景技术：：随着半导体制造技术以及立体封装技术的不断发展，电子器件和电子产品对多功能化和微型化的要求越来越高。在这种小型化趋势的推动下，要求芯片的封装尺寸不断减小。3d叠层粉妆技术的封装体积...

根据对华新光电、日东集团的剥离液成分进行分析得知，剥离液主要成分为单乙醇胺(MEA)，二甲亚砜(DMS0)和二乙二醇单丁醚(BDG)，其中市场上大部分以二乙二醇单丁醚居多。剥离液废液多呈深黑色且气味大，由以下几种组分构成：（1）、1～20%重量的醇...

高世代面板)表面上，或透入其表面，而把固体物料润湿，剥离液亲水性良好，能快速高效地剥离溶解光刻胶。因此，本申请中的高世代面板铜制程光刻胶剥离液由酰胺、醇醚、环胺与链胺、缓蚀剂、润湿剂组成。其中，酰胺可以为n-甲基甲酰胺、n-甲基乙酰胺、n，n-二甲基甲...

本申请实施例还提供一种剥离液机台的工作方法，请参阅图5，图5为本申请实施例提供的剥离液机台的工作方法的流程示意图，该方法包括：步骤110、将多级腔室顺序排列，按照处于剥离制程的剥离基板的传送方向逐级向剥离基板提供剥离液；步骤120、将来自于当前级腔...

随着电子元器件制作要求的提高，相关行业应用对湿电子化学品纯度的要求也不断提高。为了适应电子信息产业微处理工艺技术水平不断提高的趋势，并规范世界超净高纯试剂的标准，国际半导体设备与材料组织（SEMI）将湿电子化学品按金属杂质、控制粒径、颗粒个数和应用...

图2为本申请实施例提供的剥离液机台的第二种结构示意图。图3为本申请实施例提供的剥离液机台的第三种结构示意图。图4为本申请实施例提供的剥离液机台的第四种结构示意图。图5为本申请实施例提供的剥离液机台的工作方法的流程示意图。具体实施方式目前剥离液机台在工作...

在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请实施例提供的剥离液机台的种结构示意图。图2为本申请实施例提供的剥离液机台的第二种结构示意图。图3为本申请实施例提供的剥离液机台的第三种结构示意图。图4为本申请实施例提供的剥离...

高世代面板)表面上，或透入其表面，而把固体物料润湿，剥离液亲水性良好，能快速高效地剥离溶解光刻胶。因此，本申请中的高世代面板铜制程光刻胶剥离液由酰胺、醇醚、环胺与链胺、缓蚀剂、润湿剂组成。其中，酰胺可以为n-甲基甲酰胺、n-甲基乙酰胺、n，n-二甲基甲...