微焦点X-rayX射线检测IGBT双层焊锡空洞、POP堆叠封装芯片等

3D自动X射线检测型号：FX-300tRX.ll对应大型基板的3D-X射线观察装置特征：可的覆盖600x600mm尺寸的基板；几何学倍率:达到1,000倍；X射线相机可以任意斜0°~60；用触摸屏和操作杆提高操作；滑动门大型样品也能轻松设置X,Y,Z1(相机),Z2(X射线),Q轴(倾斜)的5轴操作用X射线立体方式可除去背面的安装零件的信息进行观察(可以选择的追加功能)转盘能够对应400x400mm尺寸的基板(可选择的追加功能))。 上海晶珂销售爱i-bit 的FX-300tR型号的X射线立体方式检测装置，对BGA的锡球和基板结合部分离检测。导线架状态X射线检测应用范围

微焦点X射线检测系统对BGA焊点短路、气泡等缺陷检测、电子器件缺陷检测

型号：LFX-1000IC

打线结合/导线架状态自动检查设备概要:可进行全自动检查的在线式X射线检查设备,针对IC内部的打线接合/导线架的状态进行高速/高精度检查特征:在导线架的状态下进行自动搬运及自动检查标注不良的部位。不仅是打线结合的部位,也可以检查金属异物及导线架间隔等导线架从进板机直接堆板设置或者是用抽换式基板收纳架供料可与各种上料机/下料机连接(为追加选配功能) BAG焊接部位X射线检测销售厂家i-bit 爱比特 X-ray X射线检测设备实现了对PCB 板的断层扫描，解决了BGA、CSP等元件封装质量控制问题。

日本爱比特，i-bit微焦点X射线检测系统  3D自动X射线检测

小型密闭管式X射线装置,达成几何学倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分层摄影法而是运用第三种检查方式 X射线立体方式.能够节省检查成本

型号：FX-300fRXz with cT

用途：以往运用X射线的检查方式,背面的CHIP(芯片)零件成为杂讯而很难做正确的检查。l-Bit公司所开发的r3D-X射线立体方式能够将背面基板贴装的BGA,LGA,QFN等图像删除。与以往的X射线CT方式不同不需要断层图像所以能够做高速处理。

微焦点X射线检测系统，日本爱比特，i-bitX-ray检测系统3D-X射线检测

型号：FX-300fRXzwithc搭载芯片计数功能!依据X射线的穿透图像数卷轴上的压纹带里面的电子零件“方形芯片‘的数量。一个卷带盘约30秒可完成计数。

用专门软件进行图像重组,可输出断层图像可使用VolumeRendering(立体渲染)软件做3D输出,也能输出断层动画。3D图像资讯的重组,使用GraphicProcessingUnit*(图像处理器)速度能够达到以往的1/20。影像处理用的处理器具有1000个以上,可以同时处理1000个以上的图像 上海晶珂 X-ray x射线检测 穿透影像 高倍率 3D立体 计算机断层扫描系统。

日本爱比特  i-bit公司的微焦点X射线检测系统，3次元立体有式 在线射线检查设备。

产品型号:ILX-1100/2000

特征：

运用X射线立体方式可进行BGA等底面的焊锡部位的检查可以不受到双面安装基板背面的影响进行检查采用X射线立体方式可进行3D的CT断层扫描检查能够对应小型基板(50x50mm)到Lsize(510x460mm)安全设计,不需要具备X射线操作资格小型可省空间进行在线检查.

BGA的焊接部位检查：运用立体CT功能可指水平切割的100层的表面中的任意面作检查。 上海晶珂销售爱i-bit 的X射线立体方式检测装置，对BGA的锡球和基板结合部分离检测。江苏导线架状态X射线检测

X-ray X射线检测系统 X射线无损检测系统 检测基板焊锡缺陷。导线架状态X射线检测应用范围

X射线观察装置FX-3OOfR几何学倍率:900倍荧光屏放大倍率:5400倍X射线输出:90kVX射线焦点径:5u,15u(切换)用几何学倍率特征D随然是小型设备但可达成几何学倍率900倍2存储良品的图像,可以和现在的图像做比较3可以将平板相机倾斜60°做观察4即使做倾斜观察也能自动追踪观察位置(即使相机倾斜位置点也不会偏移)5附带有各种测定机能6可追加选项检查机能选项功能可对应CT及L尺寸8靶材~试料0.5mm,靶材~X射线相机450mm:450/0.5=900,几何学倍率达到900倍L尺寸装置可对应600x600mm的基板导线架状态X射线检测应用范围

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