ICT测试治具能够检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory类、常用驱动类、交换类等IC。ICT测试治具通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上，故障定位准确。对故障的维修不需较多专业知识。采用程序控制的自动化测试，操作简单，测试快捷迅速，单板的测试时间一般在几秒至几十秒。在线测试通常是生产中首先道测试工序，能及时反应生产制造状况，利于工艺改进和提升。ICT测试治具测试过的故障板,因故障定位准，维修方便，可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体，是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。ICT测试治具能够在短短几秒内测出整块电路板的好坏。天津ICT仪器

测试治具探针的选择：测试治具，压床式的测试治具，一般都会用到探针，所以在测试治具设计时，探针的选择非常重要。治试治具的探针，已经做的标准化了，如大小、长度、高度、行程等，都有一系列的数值参数。所以我们要做的就像选择螺丝一样，只能选择探针的型号规格，而不能想当然的想要多少就要多少，想要哪类就要哪类。一般来说，探针的型号，测试治具很重要的是探针的直径大小。探针的大小用mil为单位的，此单位为英制的。单位的换算为100mil=2.54mm＝0.1in。宁波ICT自动化测试治具价格ICT测试治具测试结果的好与坏，除了一些测试技巧之外，测试治具的选择和合适的测试设备也一样重要。

ICT测试原理：1）电阻测试：电阻是测试其阻值。其工作原理很简单，就是在电阻的测试针上加一个电流，然后测试这个电阻两端的电压，利用欧姆定律：R=U/I算出该电阻的阻值。2)电容测试：测试电容是测量其容量。小电容的测试方法与电阻类似，不过是用交流信号，利用XC=U/I同时，XC=1/(ωC)而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是测试频率，U、I是测试信号的电压和电流有效值。大容量的电容测试用DC方法，即用直流电压加在电容两端，充电流随时间或指数减少的规律，在测试时加一定的延时时间就可测出其容量。

ICT测试治具检验标准：1.电源配线是否按+5V为2号针,+12V为15号针,+3.3V为10号针,GND为5号针；2.FIN零件,防呆针是否制成OPEN状态；3.TJ大小是否和IC一样大,是否压到其他零件(大小误差为+/-1mm；4.贴图正看A1是否在左上方；5.弹簧是否全部为16L,弹簧深7mm；6.TestJet牛角是否70mm,锁右上一格,缺口朝下；7.天板(厚5mm):平头螺丝4Φ*10mm长,天板铣沉头；8.压棒平头是否Φ6.3(6.0)*20mm尖头Φ2.0mm*20mm螺丝用圆头3Φ*15mm压棒与零件须距2mm以上距离；9.载板是否铣凹槽提把,60*30*4(mm)；10.天板刮伤目视,例:周边铝柱内不可刮伤；11.周边是否刮除利角,需专门双边例角工具；12.综合检查外观,包装及标示是否到位,是否正确,明显。ICT测验治具中所选用的板材一般有压克力(有机玻璃)、环氧树脂板等。

ICT测试治具的作用很多使用范围也很普遍，它早在在工业时代前就已被普遍使用。ICT测试治具对产品的检测有什么作用呢?作用一是品质的保障：因ICT是全检的机器，所有元件都受到严格控制，很大提升品质。作用二是降低生产成本：减少维修人员与目视人员的数量，降低技术要求，材料与资源的节省，很大降低生产成本。作用三是提高企业形象：产品品质的提升，提高企业形象，业绩量大增。作用四是效率的提升：ICT它能够在短短几秒内测出整块电路板的好坏，并告知您它坏在哪个区域及哪个零件，快速解决生产制成问题，并促使产品产量提升。ICT电阻测试：电阻是测试其阻值。宁波ICT自动化测试治具价格

ICT治具的测量总误差由机器本身的测量误差；通道及接触误差；被测对象的误差三项构成的。天津ICT仪器

ICT测试治具的应用：从目前应用情况来看，采用两种或以上技术相结合的测试策略正成为发展趋势。因为每一种技术都补偿另一技术的缺点：从将AXI技术和ICT技术结合起来测试的情况来看，一方面，X射线主要集中在焊点的质量。它可确认元件是否存在，但不能确认元件是否正确，方向和数值是否正确。另一方面，测试治具可决定元件的方向和数值但不能决定焊接点是否可接受，特别是焊点在封装体底部的元件，如BGA、CSP等。随着AXI技术的发展，目前AXI系统和ICT系统可以“互相对话”，这种被称为“AwareTest”的技术能消除两者之间的重复测试部分。通过减小ICT/AXI多余的测试覆盖面可有效减小ICT的接点数量。这种简化的测试治具只需原来测试接点数的30%就可以保持目前的高测试覆盖范围，而减少ICT测试接点数可缩短ICT测试时间、加快ICT编程并降低ICT夹具和编程费用。天津ICT仪器

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