AE1/RD1半球发射率,是美国DS的一款发射率测量仪,是专门针对测量物体的辐射率设计的,那么它在在建筑反隔热涂料行业起着怎么样的作用呢?首先我们先了解一下什么事隔热涂料。隔热涂料是集反射、辐射与一体的新型隔热涂料,通过高效反射太阳光来达到隔热目的。建筑隔热涂料发射率是产品质量的重要管控指标,所以建筑隔热涂料发射率测量是必不可少的。反射隔热涂料是由基料、热反**料、填料和助剂等组成。通过高效反射太阳光来达到隔热目的。薄层隔热反射涂料是这类涂料的**。一般指太阳反射比不小于83%的油漆。样品温度:比较大130℉。样品温度和标准体温度必?须一致红外发射率测量仪使用方法
符合《ASTMC1371》、《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》、《GBT25261-2010建筑用反射隔热涂料》等国家标准,是建筑涂料行业,新能源材料研究,航空航天材料研发检测的必须品。重复性高,重复精度达到±;易于操作:仪器的检测器部分已电加热,因此不必额外加热样品,也无需温度测量。根据高发射率标准体提前设定发射率标准参数,测量仪*对辐射热传输响应并输出电压,和发射率成线性关系,通过可调旋钮设定发射率读数与标准体的发射率一致,通过校准后,当测量被测样品时,检测仪便可直接读出发射率。快速测量:在大约30分钟的初始预热器。期后,可以每隔半分钟读取一次发射率读数,使得测量结果变得实时可观。高性价比:该仪器简便小巧,性价比高,比同期其他方法的测量设备成本更低,维护更简单。 半球发射率发射率测量仪解决方案重复性:±操作简单:探测器采用电加热设计,无须加热样品,也不需要测量温度。 快速测量:预热约30分钟。
把该仪器放在高发射率标准体(黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品**小直径为2.25英寸(5.7cm)。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品**小直径为1.0英寸(2.54cm),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头。AE1/RD1红外半球发射率测量仪满足《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。
技术参数读数器:D&S微型数字伏特计,型号RD1输出:(当材料发射率为,材料温度为25℃时)线性关系:该测量仪输出和发射率成线性关系,偏差小于±℉。样品温度和标准体温度必?须一致漂移:输出值可能随着外界环境的变化而改变,但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略标准体:随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用,另一套标准体备用并作为参考电源:通用交流电源适配器100-240V,50-60Hz,12V直流输出AE1发射率仪:包括发射率仪、电源线、加热装置,两个高发射率标准体和两个低发射率标准体,技术手册及操作指南。 发射率通过把辐射计放在高发射率标准体上,设定RD1来表示发射率。
校准AE1/RD11.设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到,2.把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上,另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水,确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多,太多的话会流到样品和探测器里面。3.把探头放在高发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。4.把探头放在低发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝,使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。 D&S AERD半球发射率测定仪,可快速测量各种固体表面的发射率。价格实惠发射率测量仪价格多少
客户定制-定制测呈适配器,用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面。红外发射率测量仪使用方法
参数介绍|半球发射率AE1/RD1:AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪*对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体(黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品直径不小于()。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品直径不小于(),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头,可来上海明策咨询! 红外发射率测量仪使用方法
上海明策电子科技有限公司专注技术创新和产品研发,发展规模团队不断壮大。公司目前拥有较多的高技术人才,以不断增强企业重点竞争力,加快企业技术创新,实现稳健生产经营。公司以诚信为本,业务领域涵盖黑体校准源,红外测温仪,高速摄像机,发射率测量仪,我们本着对客户负责,对员工负责,更是对公司发展负责的态度,争取做到让每位客户满意。公司力求给客户提供全数良好服务,我们相信诚实正直、开拓进取地为公司发展做正确的事情,将为公司和个人带来共同的利益和进步。经过几年的发展,已成为黑体校准源,红外测温仪,高速摄像机,发射率测量仪行业出名企业。