ORI光学镜头测试系统是一台通用型光学镜头测试系统。该系统可以测量镜头的所有重要参数：MTF，分辨率，EFL，畸变，渐晕，透过率，BFL，工作焦距，焦深，场曲，色差等。可测试波段涵盖了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR，也可用于测试多波段光学系统，列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。

ORI测试系统原理：目标发生器放置在被测镜头的焦平面上形成一套投影系统，透射出的平行光入射平行光管，蕞终成像到相机的接收面上。ORI测试系统蕞大的特点是采用逆光路测量原理，较一般正光路的测量系统具有独特的优势。 光电测试，助力风电行业，提升叶片质量检测。黑龙江光电测试系统品牌

一系列不同的辐射源可以用在投影系统中（光谱范围扩展到SWIR的光源或者MTB黑体）以及一系列SWIR用于投影系统中的靶标也可用于测量。测量成像整机系统轴校准：电控的测试系统生成由被测试热像仪及相机生成的图像并计算两者之间的角度：a)热像仪在不同视场下的光轴；b)相机在不同镜头放大率下的光轴；c)热像仪与相机之间的光轴。激光系统轴对准：计算机控制的测量系统分析激光系统在激光敏感卡上生成的图像并计算光轴间的夹角：激光光轴（激光测距仪，激光指示器，激光照射器等）相对于成像系统光轴。注意：MS系统可以进行激光测距仪发射光轴的校准。这里假定激光测距仪发射光轴与接收已经调整好。这里可选测量激光测距仪的光轴对MS系统轴的能力。测量SWIR相机：SIWR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量SIWR相机。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一组SWIR靶标；测量不同图像格式的热像仪：当采用模拟视频采集卡并且测量分辨率小于等于756×576的25Hz的视频图像时；也可以选择数字图像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作为测量高分辨率高帧频的数字输出传感器。黑龙江光电测试系统品牌IR FPA 传感器 焦平面阵列传感器，为智能穿戴设备提供精细传感器测试。

MTB系列黑体是精密的面源黑体，旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。黑体散热器的***温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500mm，具体取决于型号。应用MTB黑体可用于一系列可能的应用：1、在中温范围内测量热像仪的精度（已知温度的面源）。2、监控系统SWIR成像仪3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统

至高温度：典型的至高温度为550℃。如果不需要这样的温度，则最高温度可以降低到350℃，并且提供更好的热均匀性。

可见光靶标主要分为两类：A)反射式靶标，B）透射式靶标。反射式靶标无法提供高精度的靶标图形因此只能用于可见光成像系统简单的评估测试。透射式靶标的精度可以达到次微米级，通常采用在干净的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF 1951靶标，其具备很好的通用性，既支持低分辨率相机测试，也同时支持高分辨率相机测试。

产品参数：

参数：数值

图案类型：3杆

图案组数：0到7(可选0-8)

空间频率范围：1-228lp/mm(可选1-456lp/mm)

对比度：百分之二到100%

基板：钠钙玻璃(可选石英)

图形镀膜：铬

靶标板尺寸：23x23mm 光电系统，提升化工原料纯度检测精度。

ST测试系统使用一系列不同的靶标来投影标准靶标图形到被测试的短波红外相机，短波红外相机生成畸变的靶标图像由计算机采集并由人眼主观或者软件来计算得到短波红外相机的重要参数。

ST测试系统包括了反射式平行光管，带宽光源，中温黑体，旋转靶轮，一组靶标，一组滤波片，PC，图像采集卡以及测试软件组成。

特征：一、支持模拟三种不同的情况：1）反射多色辐射结构（系统采用SAL光源）；2）发射辐射配置（系统采用MTB中温黑体）；3）单色光源配置（SAL光源配置带通滤波器）。二、支持测试光学口径不大于100mm短波红外相机；三、支持模拟很暗的夜晚环境以及很亮的白天环境；四、支持模拟目标的温度可达600oC；五、模块:CDT1000平行光管，SAL光源，MTB-2D中温黑体，MRW-8旋转靶轮，一组靶标，1550nm带通滤波片，图像采集卡，MTB控制程序，SAL控制程序，TAS-S程序； INFRAMET SIM 热成像光电测试系 统，精确把控汽车制造关键环节。进口光电测试系统代理商

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Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构，平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计（只需较小、较窄的光学平台）。而且，垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时，垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。

Inframet使用三个等级的离轴反射镜面：?SR（标准分辨率）-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。?HR（高分辨率）-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm（典型λ/10）。?UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。?SQ（极高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。 黑龙江光电测试系统品牌