USB4.0的接收容限测试

对于USB4.0的接收端来说，主要进行的是接收容限测试，用于验证接收端在压力信号(StressedElectricalSignal)下的表现。具体的测试项目包括压力信号的误码率测试(BER)、突发误码率测试(MultiError-Burst)、频率偏差(FrequencyVariations)、回波损耗(ReturnLoss)等。

误码率的测试要在压力信号下进行，因此需要先用高速误码仪的码型发生器产生带预加重、正弦抖动(PJ)、随机抖动(RJ)、扩频时钟(SSC)、共模噪声(ACCM)的信号，并用高带宽示波器进行压力信号校准。校准完成后再把压力信号注入被测件，在不同的正弦抖动幅度和频率下进行误码率测试。在USB4.0的接收容限测试中，需要做两种场景的测试：Casel的测试中没有插入USB电缆，模拟链路损耗小的情况；Case2的测试中要插入2m 克劳德高速数字信号测试实验室USB标准测试方案；DDR测试USB测试USB测试

USB4.0 的 规范 是 2021 年 5 月份发 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”；测 试 规 范 是 2021 年 7 月 份 发 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因为 USB4.0 需要支持有源电缆和无源电缆两种应用场景，  针对 的测试点分别是 TP2 和TP3，  即通俗讲的近端测试和远端测试。 在进行远端测试时，需要考虑无源电缆的影响。因为一根实体的 无源电缆很难完整的表征所有恶劣的场景，  包括插入损耗、回 波损耗、串扰等，为了保证测试的一致性和可重复性，发动端测 试都是用软件的算法，  利用示波器嵌入 S 参数 / 传递函数的方式， 实现参考链路的模拟。同时，  为了保证测试精度，  USB4.0 要求示 波器在进行信号捕获前，需要通过去嵌 (De-embedded) 的方式去除 测试电缆的影响。 DDR测试USB测试USB测试USB3.0一致性测试环境；

USB测试

基本介绍随着USB技术在消费电子产品和其他电子产品上的快速发展和普及应用，USB性能规范和符合性测试变得越来越重要。如果生产商希望在产品上粘贴符合USB-IF标准的USB认证标志，任何附有USB端口的产品，例如电脑、手机、音视频产品以及其他电子设备等都必须进行USB测试。北测是获得认可的测试实验室，完全符合USB-IF的标准，可帮助制造商获得USB认证，并在产品上粘贴USB标志。测试服务USB测试服务包括：高速、全速、低速USB设备测试·外部装置·主机内插卡·集线器·系统·集成电路·电线组件·连接器·USBOTG

USB2.0技术已被的市场接受，它将资料处理速率提升了40倍。资料处理量的增加为许多新型产品打开新天地，包括全动态视讯至辅助性的、只有钱包大小的硬盘机。但是，随着资料速率的急速升高，也出现了新的测试和量测方面的挑战。

资料速率增加40倍后虽然带来了许多好处，但也给USB2.0兼容性装置供应商带来了各种新的设计挑战。特别是在讯号品质问题方面，如电路板的布局、抖动、上升和下降时间、电磁场干扰、噪声，和接地噪声等，都已成为需待解决的设计问题。保持讯号质量是保证USB2.0装置合乎规格，并获得USB2.0「认证」标志的关键之一。讯号质量测试包括:?眼图测试?信号速率?数据包结束宽度?交叉电压范围（适用于低速和全速）?JK抖动?KJ抖动?连续抖动?单调测试（适用于高速）?涨落时间 USB4.0一致性测试环境；示波器、测试软件、夹具；

USB接口测试USB3.0测试USB-IF标准随着USB技术在消费电子产品和其他电子产品上的快速发展和普及应用，USB性能规范和符合性测试变得越来越重要。如果生产商希望在产品上粘贴符合USB-IF标准的USB认证标志，任何附有USB端口的产品，例如电脑、手机、音视频产品以及其他电子设备等都必须进行USB测试。是获得认可的测试实验室，完全符合USB-IF的标准，可帮助制造商获得USB认证，并在产品上粘贴USB标志。为满足行业发展的需要，提供的USB测试服务，包括USB一致性测试、USB性能测试以及USB产品调试实验室租赁服务。

测试服务USB测试服务包括：高速、全速、低速USB设备测试外部装置主机内插卡集线器系统集成电路电线组件连接器USBOTG USB2.0一致性测试环境；数字信号USB测试热线

USB3.0的总线架构展示？DDR测试USB测试USB测试

每一代USB新的标准推出，都考虑到了对前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技术下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更强的供电能力及对多协议的支持等，都只能在新型的Type-C连接器上实现。由于USB总线的信号速率已经很高，且链路损耗和链路组合的情况非常复杂，所以给设计和测试验证工作带来了挑战，对于测试仪器的功能和性能要求也与传统的USB2.0差别很大。下面将详细介绍其相关的电气性能测试方法。由于涉及的标准众多，为了避免混淆，我们将把USB3.0、USB3.1、USB3.2标准统称为USB3.x,并与USB4.0标准分开介绍。DDR测试USB测试USB测试