对于半导体行业来说，圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节，检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量，马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中，可在Z轴上准确聚焦。因此，这是检测圆晶缺陷的理想选择，例如，圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验，可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm*0.4μm，大倾斜角为+/-45°，0.75数值孔径。Marposs为齿轮变速箱壳体提供量身定制的泄漏测试解决方案,可满足行业内手动或全自动的多选项解决方案。黑龙江电机轴检测设备

Optoflash可以测量超高分辨率精度的型号用于超小尺寸的工件。OptoflashXS提供了超高级别的分辨精度密度，所以更适合小工件和小公差带。因此，OptoflashXS具有超高精度的图像分辨率。另外，Optoflash外观设计紧凑为生产车间现场而设计，也可用于实验室环境。将光学处理系统和软件系统集成在一体机内。除此之外，Optoflash具有超快的测量速度操作人员只需要把工件放在测量平台上，然后按“开始START”按钮，两秒后即可完成工件测量。玻璃表面缺陷检测E.D.C.自1998年以来开发的用于局部放电绝缘测试的方法基于电容耦合技术。

Optoquick便于简单和快捷的操作，采用单击循环的自动测量方式，便于操作人员进出的开放式上下料区，安全光幕的保护自动的环境温度补偿，工件温度补偿的选项，工件装载夹紧确认和防错的信号反馈。Optoquick柔性且智能采用单个系统,灵活测量不同种的工件二维码扫描程序。扫描二维码,录入信息,自动选择工件测量程序人体工程学的尾架定位,操作舒适快捷具备多种工件夹具,如定心前列,球前列,卡盘,平托盘(或磁性),气动吸盘夹具等,满足绝大多数现场需求。

Optoflash具有明显的功能。一方面，高速测量。在不进行Z轴运动的情况下对整个零件进行光学采集—相对其它系统对测量要素逐一扫描测量来说—Optoflash测量系统测量只需一瞬间。另一方面，可靠耐用。固定位置的光学系统，避免了轴向的机械磨损。测量系统拥有很强的计量性能，可在数百万次的测量周期内，确保运行的一致性和稳定性。这一性能可比较大限度地减少对系统的维护保养。因此，可以看出Optoflash具有高测量精度和“闪电般”的测量循环时间。局部放电绝缘测试是一种更复杂的技术，对外部电磁干扰不敏感，因此更适合在生产环境中使用。

对于光学测量不到的特征，G25是一个完美的互补。这些测量特征通常包括：?键槽深度，角度，对称度?孔?平面的形位特征?轴向跳动。接触式轴向测头通过智能集成的轴向接触式测头，可进一步拓展Optoquick的功能。这使得Optoquick能够实现以下附加功能：?小公差的轴向跳动度?用户定义半径处的轴向长度?穿过工件轴线的测量?光学测量不到的区域。通过将光学与接触式技术，以及完整的马波斯设计结合起来，Optoquick可提供高于行业标准的扩展测量功能。通过此独特的技术集成，Optoquick可快速测量规定半径处的轴向单跳动和全跳动。马波斯齿轮产品线包括多种类型齿轮尺寸测量,如用于DOB检查的量规,双啮和单啮齿轮滚子测量的量规测量系统。四川电池pack 组检测设备

泄漏标准件和LTC检漏机控制是定期检查和校准测试系统必不可少的设备。黑龙江电机轴检测设备

Optoquick具有实时的柔性和极高的性价比。可将单个Optoquick，用于监控相同生产区内的多台机床以及多种不同类型的工件。Optoquick通过简单的操作员选择或条形码扫描，就能即时切换到一个新的测量程序。Optoquick具有长久的投资回报。能够为客户的生产规划了一个非常柔性与可重新配置的策略。需要采用现有生产线以制造新产品或者只需要生产现有零件的新版本。这对于Optoquick而言，都不是问题。只需要在Optoquick上添加一个新的测量程序。Optoquick，面向未来的柔性。黑龙江电机轴检测设备