通常，参数测试系统将电流或电压输入被测器件（DUT），然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为：从测试仪通过电缆束至测试头，再通过测试头至探针卡，然后通过探针至芯片上的焊点，到达被测器件，并然后沿原路径返回测试仪器。如果获得的结果不尽如人意，问题可能是由测量仪器或软件所致，也可能是其它原因造成。在检测虚焊和断路的时候，探针卡用户经常需要为路径电阻指定一个标称值。信号路径电阻是从焊点到测试仪的总电阻，即接触电阻、探针电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。但是，接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。半导体探针：直径一般在0.50mm-1.27mm之间。连云港微型探针批量定制

现有的探针头，通常采用条状弹簧片来提供恒定压力和在金属探针头上焊接上一根导电线，在结构上，每根条状弹簧片是单独压在对应的探针上，每根条状弹簧片需单独定位，安装困难，由于条状弹簧片是用弹簧金属片单独切割而成，因而比较难保证每根条状弹簧片都具有相同的弹力，采用条状弹簧片因长度长而令探针头的体积增大，探针头的异形外壳加工困难。采用耙形弹簧片作为探针恒压弹性元件，耙形弹簧片用定位环定位安装，并选用多种形状及不同材料探针的探针头，从而克服现有技术存在的缺点。南京使用探针生产厂家钨探针具有高硬度、高弹性模量等特点。

触点压力的定义为探针顶端（测量单位为密耳或微米）施加到接触区域的压力（测量单位为克）。触点压力过高会损伤焊点。触点压力过低可能无法通过氧化层，因此产生不可靠的测试结果。顶端压力主要由探针台的驱动器件控制，额外的Z运动（垂直行程）会令其直线上升。此外，探针材质、探针直径、光束长度、和尖锥长度都在决定顶端压力时起重要的作用。从本质上来说，随着探针开始接触并逐渐深入焊点氧化物和污染物的表层，接触电阻减小而电流流动迅速开始。随着探针接触到焊点金属的亚表层，这些效应将增加。尽管随着探针压力的增强，接触电阻逐渐降低，终它会达到两金属的标称接触电阻值。

钨探针：我们生产的纯钨探针、铼钨探针、Paliney7合金探针，主要应用于IC、LED、LCD等芯片检测以及晶圆检测等行业。适用于各类Pad表面。衡泌采用品质稳定的原材料，可按照不同客户的多样要求，提供国产或日本钨材料，有纯钨（99.95-99.98%）、铼钨等原料。通常情况下，测量仪器引进一些噪声或测量误差。而更可能导致误差的原因是系统的其它部件，其中之一可能是，它会受探针参数的影响，如探针的材料、针尖的直径与形状、焊接的材质、触点压力、以及探针台的平整度。此外，探针尖磨损和污染也会对测试结果造成极大的负面影响。电子探针可以对试样中微小区域（微米级）的化学组成进行定性或定量分析。

铼钨针(97%Tungsten,3%Rhenium)，直径是0.05-0.1mm不等，针具有高硬度、高弹性模量、检测时无伤原器件等特点，其硬度/抗劳性佳，稳定度佳，适合长时间测试。我司可按照不同客户的多样要求，提供国产或日本钨材料，T长均匀，针尖采用研磨处理，中心居正，针尖长度细长，饱满，寿命长。这种探针的针尖尖部经过特殊工艺加工而成，针锥精度高，具有强度高和弹性模量，产品更耐磨、更耐腐蚀，表面光滑无伤，光洁度可达到Ra0.25以下，几乎为镜面。探针具有用于测量半导体材料、功能材料、导电薄膜的电阻率、面电阻、型号及击穿电压等多种功能。探针具有的功能：用于测量半导体材料、功能材料。南通常规探针厂家供应

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探针台是由针头、内管和弹簧三部分组成的。因为探针在应用中十分注重它的导电性、持久性和硬度等特性的强弱，所以在安装时也是有一定的讲究的。在安装前，要对这些部分做特殊的电镀处理，这样的探针才可以说是合乎规范可以应用的探针。一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长。汽车线束测试测试探针专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0--3.5mm之间，电流在3----50A除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等。电子探针可以对试样中微小区域（微米级）的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描（得到层成分分布信息）、面扫描分析（得到成分面分布图像）?；鼓苋远信浚ㄔぶ?999测试点）定量分析。比较少用。高电流探针：探针直径在2.54mm-4.75mm之间。大的测试电流可达39amps。连云港微型探针批量定制

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