轮廓仪的性能

测量模式 ：

移相干涉（PSI），白光垂直扫描干涉（VSI），单色光垂直扫描干涉（CSI）

样 品 台 ：

150mm/200mm/300mm 样品台（可选配）

XY 平移：±25mm/150mm/200mm/300mm，倾斜：±5°

可选手动/电动样品台

CCD 相机像素：

标配：1280×960

视场范围：

560×750um（10×物镜）

具体视场范围取决于所配物镜及 CCD 相机

光学系统：

同轴照明无限远干涉成像系统

光 源：

高 效 LED

Z 方向聚焦 80mm 手动聚焦（可选电动聚焦）

Z 方向扫描范围 精密 PZT 扫描(可选择高精密机械扫描，拓展达 10mm )

纵向分辨率 ＜0.1nm

RMS 重复性* 0.005nm，1σ

台阶测量** 准确度 ≤0.75％；重复性 ≤0.1%，1σ

横向分辨率 ≥0.35um（100 倍物镜）

检测速度 ≤ 35um/sec , 与所选的 CCD NanoX-8000 的XY 平台比较大移动速度：200mm/s 。Nano X轮廓仪有哪些品牌

轮廓仪的技术原理

被测表面(光)与参考面(光)之间的光程差（高度差）形成干涉

移相法(PSI)  高度和干涉相位

f = (2p/l ) 2 h

形貌高度: < 120nm

精度: < 1nm

RMS重复性: 0.01nm

垂直扫描法

(VSI+CSI)  

精度： ?/1000   干涉信号~光程差位置

形貌高度: nm-mm,

精度: >2nm

干涉测量技术：快速灵活、超纳米精度、测量精度不受物镜倍率影响

以下来自网络：

轮廓仪，能描绘工件表面波度与粗糙度，并给出其数值的仪器，采用精密气浮导轨为直线基准。轮廓测试仪是对物体的轮廓、二维尺寸、二维位移进行测试与检验的仪器，作为精密测量仪器在汽车制造和铁路行业的应用十分***。

Nano X-3000轮廓仪优惠价格产能 : 45s/点 （移动 + 聚焦 + 测量）（扫描范围 50um）。

1）白光轮廓仪的典型应用：

对各种产品，不见和材料表面的平面度，粗糙度，波温度，面型轮廓，表面缺 陷，磨损情况，腐蚀情况，孔隙间隙，台阶高度，完全变形情况，加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。  

2）共聚焦显微镜方法 

共聚焦显微镜包括LED光源、旋转多***盘、带有压电驱动器的物镜和CCD相机。LED光源通过多***盘（MPD）和物镜聚焦到样品表面上，从而反射光。反射光通过MPD的***减小到聚焦的部分落在CCD相机上。传统光学显微镜的图像包含清晰和模糊的细节，但是在共焦图像中，通过多***盘的操作滤除模糊细节（未聚焦），只有来自聚焦平面的光到达CCD相机。因此，共聚焦显微镜能够在纳米范围内获得高 分辨率。 每个共焦图像是通过样品的形貌的水平切片，在不同的焦点高度捕获图像产生这样的图像的堆叠，共焦显微镜通过压电驱动器和物镜的精确垂直位移来实现。200到400个共焦图像通常在几秒内被捕获，之后软件从共焦图像的堆栈重建精确的三维高度图像。

NanoX-8000轮廓仪的自动化系统主要配置 ：

? XY比较大行程650*650mm

? 支持415*510mm/510*610mm两种尺寸

? XY光栅分辨率 0.1um，定位精度 5um，重复精度

1um

? XY 平台比较大移动速度：200mm/s

? Z 轴聚焦：100mm行程自动聚焦，0.1um移动步进

? 隔振系统：集成气浮隔振 + 大理石基石

? 配置真空台面

? 配置Barcode 扫描板边二维码，可自动识别产品信息

? 主设备尺寸：1290(W)x1390(D)x2190(H) mm

如果想要了解更加详细的产品信息，请联系我们岱美仪器技术服务有限公司。 通过光学表面三维轮廓仪的扫描检测，得出物件的误差和超差参数，**提高物件在生产加工时的精确度。

白光干涉轮廓仪对比激光共聚焦轮廓仪

白光干涉3D显微镜：

干涉面成像，

多层垂直扫描

比较好高度测量精度：< 1nm

高度精度不受物镜影响

性价比好

激光共聚焦3D显微镜：

点扫描合成面成像，

多层垂直扫描

Keyence（日本）

比较好高度测量精度：～10nm

高度精度由物镜决定，1um精度@10倍

90万-130万

三维光学轮廓仪采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高 分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案。（来自网络） 自动聚焦范围 ： ± 0.3mm。NanoX-8000轮廓仪推荐产品

由于光罩中电路结构尺寸极小，任何微小的黏附异物和下次均会导致制造的晶圆IC表面存在缺 陷。Nano X轮廓仪有哪些品牌

NanoX-系列产品PCB测量应用测试案例

测量种类

?

基板A Sold Mask 3D形貌、尺寸

?

基板A Sold Mask粗糙度

?

基板A 绿油区域3D 形貌

?

基板A 绿油区域 Pad 粗糙度

?

基板A 绿油区域粗糙度

?

基板A 绿油区域 pad宽度

?

基板A Trace 3D形貌和尺寸

?

基板B 背面 Pad

NanoX-8000 系统主要性能

? 菜单式系统设置，一键式操作，自动数据存储

? 一键式系统校准

? 支持连接MES系统，数据可导入SPC

? 具备异常报警，急停等功能，报警信息可储存

? MTBF ≥ 1500 hrs

? 产能 : 45s/点 （移动 + 聚焦 + 测量）（扫描范围 50um）

? 具备 Global alignment & Unit alignment

? 自动聚焦范围 ： ± 0.3mm

? XY运动速度 **快